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2026年新材料检测测试题及答案

一、填空题（每题2分，共20分）

1._纳米材料_是指至少有一维在1-100纳米尺度范围内的材料。

2._扫描电子显微镜_(SEM)是一种利用聚焦的电子束扫描样品表面，通过检测二次电子或其他信号来成像的仪器。

3._X射线衍射_(XRD)是一种利用X射线与晶体相互作用，通过分析衍射图谱来研究材料晶体结构的技术。

4._原子力显微镜_(AFM)是一种通过检测探针与样品表面之间的相互作用力来成像的仪器，可以用于观察纳米级表面形貌。

5._拉曼光谱_是一种利用激光与物质相互作用，通过分析散射光的频率变化来研究材料分子振动和结构的技术。

6._透射电子显微镜_(TEM)是一种利用电子束穿透薄样品，通过检测透射电子或其他信号来成像的仪器，可以用于观察材料的微观结构。

7._热重分析_(TGA)是一种通过测量材料在加热过程中的质量变化来研究其热稳定性和分解行为的技术。

8._差示扫描量热法_(DSC)是一种通过测量材料在加热或冷却过程中的热量变化来研究其相变和热力学性质的技术。

9._扫描探针显微镜_(SPM)是一种利用探针与样品表面之间的相互作用力来成像的仪器，包括原子力显微镜和扫描隧道显微镜等。

10._电镜能谱分析_(EDS)是一种利用电子束激发样品产生X射线，通过分析X射线能