IEC 60747-5-8：2019 半导体器件第5-8部分光电子器件发光二极管发光二极管光电效率试验方法标准立项发展报告.docxVIP

半导体器件第5-8部分：光电子器件发光二极管光电效率试验方法标准立项发展报告

EnglishTitle:StandardizationDevelopmentReport:SemiconductorDevices–Part5-8:OptoelectronicDevices–LightEmittingDiodes–TestMethodofOptoelectronicEfficienciesofLightEmittingDiodes

摘要

发光二极管（LED）作为新一代高效固态光源，其光电效率是衡量器件性能的核心指标，直接关系到照明产品的能效等级、寿命评估及系统设计。然而，在IEC60747-5-8:2019发布之前，国际上缺乏统一的LED光电效率试验方法标准，各厂商和检测机构采用不同的测试条件与计算方法，导致测试结果可比性差、贸易技术壁垒频现。在此背景下，国际电工委员会（IEC）第47技术委员会（半导体器件技术委员会）下属第47E分技术委员会（光电子器件分技术委员会）组织制定了IEC60747-5-8:2019《半导体器件第5-8部分：光电子器件发光二极管发光二极管光电效率试验方法》，于2019年11月13日正式发布。该标准系统规定了LED光电效率相关术语定义、测试原理、测试条件、测量设备要求及数据处理方法，为LED器件的