IEC 62878-1-1：2015 设备嵌入式基板 - 第1-1部分通用规范 - 测试方法标准立项发展报告.docxVIP

设备嵌入式基板第1-1部分：通用规范——测试方法标准立项发展报告

StandardizationDevelopmentReport:DeviceEmbeddedSubstrate—Part1-1:GenericSpecification—TestMethods

摘要

随着电子元器件向高密度、微型化、多功能方向快速发展，设备嵌入式基板（DeviceEmbeddedSubstrate,DES）技术作为新一代电子封装与互连的核心方案，已在消费电子、汽车电子、医疗电子及航空航天等领域获得广泛应用。然而，在IEC62878-1-1:2015发布之前，国际上缺乏统一的设备嵌入式基板测试方法标准，导致产品质量评价体系不一致、贸易技术壁垒频现、产业链协同效率低下。为解决上述问题，国际电工委员会（IEC）于2015年正式发布了IEC62878-1-1:2015《设备嵌入式基板第1-1部分：通用规范——测试方法》，该标准系统规定了设备嵌入式基板的术语定义、测试条件、测试方法与质量评定准则，为全球嵌入式基板产品的设计验证、来料检验、出厂检测及可靠性评估提供了统一的技术依据。本报告全面梳理了该标准的立项背景、编制过程、技术内容框架及实施意义，分析了标准在推动产业规范化发展中的关键作用，并对未来标准体系的完善方向进行了展望。研究表明，该标准的发布有效填补了国际标准空白