CN119394984A 一种基于本征点缺陷的熔石英光学元件亚表面损伤检测方法 (西安工业大学).pdfVIP

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  • 2026-11-11 发布于重庆
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CN119394984A 一种基于本征点缺陷的熔石英光学元件亚表面损伤检测方法 (西安工业大学).pdf

(19)国家知识产权局

(12)发明专利申请

(10)申请公布号CN119394984A

(43)申请公布日2025.02.07

(21)申请号202411441493.2

(22)申请日2024.10.16

(71)申请人西安工业大学

地址710032陕西省西安市未央区学府中

路2号

(72)发明人王春阳刘雪莲王营霞李瀚岳

肖博谢达吴亚杰

(74)专利代理机构西安新思维专利商标事务所

有限公司61114

专利代理师黄秦芳

(51)Int.Cl.

G01N21/64(2006.01)

G06T17/00(2006.01)

G06T7/00(2017.01)

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