IEC 60747-5-14:2022 半导体器件第5-14部分光电子器件发光二极管基于热反射法的表面温度试验方法标准立项发展报告.docxVIP

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IEC 60747-5-14:2022 半导体器件第5-14部分光电子器件发光二极管基于热反射法的表面温度试验方法标准立项发展报告.docx

半导体器件第5-14部分:光电子器件发光二极管基于热反射法的表面温度试验方法标准立项发展报告

EnglishTitle:StandardizationDevelopmentReport:Semiconductordevices-Part5-14:Optoelectronicdevices-Lightemittingdiodes-Testmethodofthesurfacetemperaturebasedonthethermoreflectancemethod

摘要

随着发光二极管(LED)向高功率、高密度、车规级和微型化方向发展,表面温度及热分布成为影响光效、寿命和可靠性的关键参数。热反射法具有非接触、微米级空间分辨率和瞬态响应能力,为LED表面温度测量提供了新途径。IEC60747-5-14:2022《半导体器件第5-14部分:光电子器件发光二极管基于热反射法的表面温度试验方法》由国际电工委员会于2022年3月4日发布并现行,系统规定了基于热反射法的LED表面温度试验的术语、原理、测量系统、样品制备、校准、试验程序、数据处理和报告要求。本报告梳理该标准的立项背景、适用范围、技术内容和实施价值,分析其与IEC60747-5系列及光电子器件标准体系的协调关系,并介绍IECTC47/SC47E的标准化职能。研究表

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