IEC TS 61169-1-51：2020 射频连接器第1-51部分电气试验技术规范回波损耗频域试验的不确定度规范标准立项发展报告.docxVIP

射频连接器第1-51部分：电气试验技术规范回波损耗频域试验的不确定度规范标准立项发展报告

EnglishTitle:StandardizationDevelopmentReport:RadioFrequencyConnectors–Part1-51:TechnicalSpecificationofElectricalTests–UncertaintySpecificationofFrequencyDomainTestforReturnLoss

摘要

随着5G通信、卫星导航、雷达系统及高速数据传输技术的快速发展，射频连接器作为信号传输链路中的关键无源器件，其电气性能指标的测量精度直接关系到整个系统的可靠性与一致性。回波损耗是衡量射频连接器阻抗匹配性能的核心参数，频域测试法因其测试效率高、频带覆盖宽等优势被广泛应用于研发与生产环节。然而，频域测试过程中涉及矢量网络分析仪精度、校准件特性、测试夹具、环境条件等多源不确定度因素，若缺乏统一的评定规范，将导致不同实验室间测试结果的可比性不足。IECTS61169-1-51:2020由国际电工委员会于2020年10月正式发布，作为射频连接器电气试验技术规范系列的重要组成部分，该技术规范首次针对回波损耗频域试验建立了系统化的不确定度评定框架，明确了不确定度来源识别、评定方法与表达方式。本报告