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半导体工艺岗笔试题目及答案

一、单项选择题(每题2分,共20分)

1.目前集成电路制造中最常用的晶圆衬底材料是?

A.砷化镓(GaAs)

B.单晶硅(Si)

C.碳化硅(SiC)

D.氮化镓(GaN)

2.干氧氧化工艺的典型反应温度范围是?

A.600~800℃

B.800~900℃

C.1000~1200℃

D.1300~1500℃

3.下列沉积技术中,属于化学气相沉积(CVD)范畴的是?

A.磁控溅射

B.电子束蒸发

C.原子层沉积(ALD)

D.电镀

4.离子注入工艺中,决定注入杂质深度的主要参数是?

A.注入剂量

B.

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