原创力文档IEC60749-17:2019《半导体器件——机械和气候测试方法——第17部分：中子照射》标准立项发展报告
StandardizationDevelopmentReport:Semiconductordevices—Mechanicalandclimatictestmethods—Part17:Neutronirradiation
摘要
随着半导体器件在航空航天、核工业、高能物理实验等辐射环境中的广泛应用，中子辐照对器件性能与可靠性的影响日益受到行业重视。IEC60749-17:2019《半导体器件——机械和气候测试方法——第17部分：中子照射》由国际电工委
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