IEC 61189-5-502-2021 电子材料、印制板及其他互连结构和组件的试验方法 第5-502部分:材料和组件的通用试验方法 组件的表面绝缘电阻(SIR)试验 标准立项发展报告.docxVIP

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IEC 61189-5-502-2021 电子材料、印制板及其他互连结构和组件的试验方法 第5-502部分:材料和组件的通用试验方法 组件的表面绝缘电阻(SIR)试验 标准立项发展报告.docx

电子材料、印制板及其他互连结构和组件的试验方法第5-502部分:材料和组件的通用试验方法组件的表面绝缘电阻(SIR)试验标准立项发展报告

StandardizationDevelopmentReport:TestMethodsforElectricalMaterials,PrintedBoardsandOtherInterconnectionStructuresandAssemblies–Part5-502:GeneralTestMethodsforMaterialsandAssemblies–SurfaceInsulationResistance(SIR)TestingofAssemblies

摘要

随着电子信息技术的高速发展,电子组件的可靠性问题日益受到行业关注。表面绝缘电阻(SurfaceInsulationResistance,SIR)是评价电子组件绝缘性能的关键指标,直接影响电子产品在湿热、污染等复杂环境下的长期可靠性。IEC61189-5-502:2021《电气材料、印刷电路板和其他互连结构和组件的试验方法第5-502部分:材料和组件的通用试验方法组件的表面绝缘电阻(SIR)试验》由国际电工委员会(IEC)于2021年2月3日正式发布实施,为电子组件表面绝缘电阻的系统化测试提供了国际统一

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