CN119648612A 一种条纹异常检测方法、装置、电子设备及存储介质 (上海天数智芯半导体有限公司).pdfVIP

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  • 2026-11-14 发布于重庆
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CN119648612A 一种条纹异常检测方法、装置、电子设备及存储介质 (上海天数智芯半导体有限公司).pdf

(19)国家知识产权局

(12)发明专利申请

(10)申请公布号CN119648612A

(43)申请公布日2025.03.18

(21)申请号202411427423.1

(22)申请日2024.10.14

(71)申请人上海天数智芯半导体有限公司

地址201100上海市闵行区陈行公路2388

号3幢101-5室

(72)发明人徐维钊

(74)专利代理机构北京超凡宏宇知识产权代理

有限公司11463

专利代理师李光霞

(51)Int.Cl.

G06T7/00(2017.01)

G06V10/74(2022.01)

G06T5/30(2006.01)

权利要求书3

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