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AEC-Q200高温存储试验中文版温度与时长设定

高温存储是无源元件鉴定里最容易被执行、也最容易被误读的一项。设备简单，操作就是放进烘箱、到点取出、测参数，看起来没有技术含量。真正的分歧全部藏在三个数字里：温度取多少、时间取多长、测之前等多久。这三个数字背后是同一套等效关系，取错任何一个，结论的方向都可能反过来。

一、这一项在鉴定序列中的位置

1.1它回答什么问题

高温存储回答的是器件在长期高温、无电应力的条件下，材料和界面会不会自行退化。它不考核功能，不考核开关行为，只考核静置状态下的稳定性。这个定位决定了它的适用范围：凡是失效由温度驱动的化学反应、扩散、相变引起，它就能覆盖；凡是需要电场、电流、机械位移才能触发的失效，它覆盖不到。

1.2与高温工作寿命的分工

同一温度下，加偏压与不加偏压得到的信息不同。无偏压时，退化来自材料本征的热老化；有偏压时，叠加了电场驱动的离子迁移、介质极化与局部发热。两者相减，可以把热老化的贡献单独拎出来。

分工的实际意义在于归因。若一项失效在两种条件下都出现，主导因素多半是热；若只在加偏压时出现，主导因素是电场。这个判断在失效分析阶段非常有用，能大幅缩小排查范围。两种条件都做时，样品要分开取，不能先用同一批做过无偏压再拿去做有偏压，前一轮的热历史会带进后一轮。

1.3与其他热项目的区别

高温存储是恒温、长时、无循环。它与