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- 2026-11-16 发布于上海
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content目录01研究背景与技术演进脉络02核心原理与关键技术架构03系统实现与算法融合创新04精度保障与系统校准机制05典型应用场景与实践验证06未来发展方向与技术展望
研究背景与技术演进脉络01
传统应变测量技术面临接触限制与空间分辨率不足的挑战01接触式局限传统应变片需物理粘贴,易受环境影响导致脱落或信号漂移。接触式测量还可能改变被测体局部刚度,影响结果真实性。02点测量缺陷应变片仅能获取单点数据,难以反映全场变形分布。面对复杂应力集中区域,容易遗漏关键应变信息。03分辨率不足传统方法空间采样密度低,无法捕捉微小裂纹或局部屈服等细节。在非均匀变形场景下,表征能力严重受限。04动态响应
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