数电实验常用芯片检测指示仪简析.pdfVIP

山西科技SHANXISCIENCEANDTECHNOLOGY 2010年第25卷第4期 ●信息技术 数电实验常用芯片检测指示仪简析 孙航，李耀，马利业 (太原科技大学，山西太原．030024) 摘要：数字芯片特剐是74系歹一l逻辑芯片在学生实验中更是至关重要，实验中要保证实验的效 果，必须要求所用的芯片逻辑功能完整，但如果对所用芯片的各个管脚进行逐一测试，就 显得十分繁琐。另外，在数字电路的维护和维修中也经常要对芯片的好坏进行检测。针 对上述需要，设计了以89C52单片机为控制核心并针对74系列逻辑芯片将传统检测算 法进4-i-优化后的简单可行的芯片检测指示仪。 关键词：数字电子技术；51单片机；芯片检测 中图分类号：7n吃7l+．5 文献标识码：A 文章编号：1004—6429(2010)04-0042-02 1 目标及问题分析 2整体设计 1．1项目背景及研究意义 2．1工作原理 芯片检测就是对芯片管教的好坏以及功能的完整性进行测 对于逻辑芯片的检测，主要是检测芯片逻辑功能的好坏，由 试并得出结论。实验是数字电子技术教学与实践的一个重要环 节，数字芯片则是实验的核心，学生要想掌握实验的连接方法及 容，因而直接由单片机对芯片的引脚进行扫描．即通过单片机输出 要领，必须对芯片的功能及管脚分配情况熟练掌握。然而，芯片 端口模拟芯片的各种输入状态，并通过单片机读回芯片的输出结 工作正常与否直接决定了实验是否成功。只有对于芯片管脚功 果，通过与芯片真值表的比较即可判断芯片逻辑功能的好坏，由于 能以及位置分布掌握，才会完成一个成功的实验，以加深实验者 单片机I／O口设置为输入方式时．必须首先将其输出置为l(此时 对理论知识的理解及培养自已动手能力的兴趣。本系统就是学 单片机输出的商电乎可由外部低电平拉低，但若输出为低电平，外 生应用本科阶段数字电子技术、C语言知识、5l单片机基础以及 部的高电平不能将单片机的输m拉高)，否则会发生输入逻辑错 电子工艺实习要领设计制作的数字芯片检测装置。 误。因而．在进行芯片扫描时，必须将芯片的输出引脚置为高电平， 1．2研究内容 即让相应的单片机I／O口输出l，然后对芯片的输入引脚进行各种 ①数字电子技术常用芯片检测系统，主要由89C52单片机状态的扫描，通过单片机读回芯片的输出．断定芯片的好坏。若芯 完成。②检测算法的优化。③原理图绘制。 片的输出与真值表完全相符。则说明芯片的逻辑功能发生错误．断 1．3需解决的关键问题 定芯片为坏的；若芯片的输出与真值表完全相符。则说明芯片的逻 (1)利用常用数字芯片的内部结构特点和]：作原理优化检辑功能正确．可以判断为好芯片。由于涉及的74芯片种类多样，各 测程序，以提高系统对被测对象的检测速度，克服同类产品固定 种芯片的输入和输出引脚各不一样，因而必须首先得到芯片的具 的检测原理和模式．达到检测结果既快义准的目的。 体型号，才能进一步判断芯片逻辑功能的好坏，芯片的型号通过拨 (2)单片机资源的分配与使用：单片机的I／O管脚需要连接码开关来设定，对于型号检测仍要保证芯片的输出引脚所接的单 芯片插座，并给出相应的逻辑信号，并将输flj：结果读回与预设值 片机I，0口输出高电平。在实际设计中，保证芯片输入脚所对应的 比较，确定工作正常与否，并由指定管脚给指示工作情况的LED I／0口置l的前提下，通过芯片的部分逻辑功能初步判断出芯片的 灯亮灭信号。 信号，然后再依据所检测的结果，可以得到芯片的引脚排列。通过 (3)由于芯片的规格与功能不同，因此需要进行针对性的检 单片机的逻辑功能