新型集成电路芯片测试仪.pdfVIP

CHINANEWTELECOMMUNICAq-IONS 毫 孔睿李莉 (北京航空航天大学自动化科学与电气工程学院北京100191) 好坏和榆测芯片型号。系统由单片机、8155扩展芯片、2x8键盘、12864液晶湿示屏和5VA制直流电源五部分组 种常用芯片和74／109／160／245四种时序芯片的逻辑符号和逻辑表达式，并且图形显示清楚，性能稳定，构成了本测 试仪的一大亮点。 本测试仪有三项功能，功能一(开机默认该功能)：用键盘输人芯片型号后，系统能自动检测芯片的好坏．并通 过液晶屏和指示灯直观显示结果，红灯亮表示芯片是坏的，屏幕扫描同时显示“FALSE”；绿灯亮表示芯片是好的，屏 幕扫描同时显示“PASS”；若测试芯片型号不在设定的范围之内，则亮白灯，屏幕显示“超出范围”。功能二：对完好的 芯片，能够自动显示逻辑符号和表达式，确定芯片型号，显示内容清晰、准确。功能三：属于虚拟系统，不插芯片，只 要输入简单的管脚特性，就能判断出用户所需要的是哪种芯片，并自动调出芯片的逻辑表达式和逻辑图。 关键词创颓芯片检测单片机接口扩展图彤显示 功能二和三是拓展功能。该测试仪除了具备普 1 引言 通测试仪功能，能够判断芯片好坏、检测芯片型号 1．1背景和意义 外，还能够准确显示逻辑图、逻辑表达式、状态转换 集成电路芯片的出现与发展，给人类进入信息 图，并通过输入管脚特性，来快速显示所需要的芯片 时代提供了源动力。在日新月异的信息时代，集成电 型号、逻辑图和表达式，是本测试仪的突出创新点。 路芯片正被广泛应用到工作、生活和生产中，在通 通过市场调查和资料搜寻，目前还没有发现其他芯 信、航天航空、信息技术等领域都有广泛的应用，并 片测试仪有此功能。 且运用越来越广泛，而74系列作为两大主流集成芯 1．3突出特点和核心优势 片之一，地位和作用更加重要。基于此，设计的小型 (1)原理简单易懂，操作方便，充分利用扩展芯 74系列检测仪(针对常用部分芯片)，可用于检测和片接口，完成对元器件的控制，快速准确。测试结果 区分部分74系列芯片，能够检测芯片的好坏和判断 显示清楚、简单、明了。 型号，还可以显示各个芯片的逻辑符号和逻辑表达 (2)模块化编程，各个模块都可以独立实现功 式，为科研和工作创造了良好条件。 能，便于检测和修改。 1．2国内研究情况和创新内容 (3)布局明朗，界面友好，液晶屏显示美观，形象 90 万方数据 CHINANEW 2009 May 生动。 64k程序存储器，就解决了存储空间的问题；两片 (4)现在市场上的测试仪都是用DSP芯片实现8155芯片也解决键盘、液晶、测试插座接单片机接口 控制测试功能的，虽然实现效果与本设计基本一致， 不够的问题。 但价格更加昂贵。本设计在成本上更有优势，有较大 2．3各模块的方案论证 的市场潜力和发展前景。 1．扩展芯片模块论证 2方案设计 个6位的可编程并行I／O口，和1个14位定时器／ 2．1设计思路 可以将74系列的00／02／04／08／10／11／20／21／27／30 是单片机系统中最常用的外同接口芯片之一。用两 十种