高分辨率阵列感应成像测井技术的应用研究.pptVIP

* 高分辨率阵列感应成像测井技术 的应用研究 测井原理及仪器介绍 ●常规感应测井原理 ——硬件聚焦 ● HDIL测井仪： ——软件聚焦 ——7组接收线圈 6in、10in、15.7in、24.5in、 38.5in、60in、94in ——8个工作频率 10、30、50、70、90、110、130、 150KHZ ▼ 时域波形监控 （1）方波信号 —— 不平衡、磁性 （2）单脉冲信号 —— 正常 （3）宽脉冲信号 —— 金属阻挡 （4）偶极脉冲信号 —— 屏蔽 质量监控 ▼ 频域监控 ——同一接收线圈子阵列在不同工作频率下 ——不同接收线圈子阵列在同一工作频率下 质量监控 趋肤效应对测量数据的影响 高分辨率阵列感应（HDIL）测井属交流电测井。测井时交变发射电流在周围介质中建立的场是交变电磁场，当电磁场以波动方式向远处传播时，相位会发生位移，而且幅度随传播距离和传播常数的增加而按指数规律衰减，这种现象称为趋肤效应。 从图中可以看出，在一般情况下，对于浅子阵列而言，其测量的电导率值随工作频率的增加变化较小，说明浅子阵列的径向探测深度较浅，电磁波在地层中的传播距离较短，受趋肤效应的影响较小；而深子阵列测量的电导率值随工作频率的增大变化较大，说明深子阵列的径向探测深度比浅子阵列的径向探测深度深，受趋肤效应的影响较大。通过观察可以看出在泥岩地层各子阵列受到的趋肤效应影响比在砂岩地层受到的影响大。说明随着地层电导率值的增加，各个子阵列的测量值受趋肤效应的影响程度增加。理论和实践都说明阵列感应的测量值受趋肤效应影响的程度主要受地层电导率值和测井仪器工作频率的控制。 A-1井测量数据受趋肤效应影响示意图 A-1井多频趋肤校正图 测量环境对测量数据的影响 一般认为井眼信号是泥浆电导率（σm）、井眼尺寸（r）、地层电导率值（σF）和仪器偏离距（x）的函数。建立在准确获取这些参数基础之上的井眼校正方法称为标准井眼校正法。它根据道尔的几何因子理论，得到以下井眼校正公式： 式中：σmeas为测量的地层电导率值； σm为井眼中泥浆滤液电导率值； σcorr为井眼校正后的地层电导率值； g 为井眼几何因子。 实际上这三个与井眼校正有关的参数，都可以利用三个浅子阵列提供的井眼信息获得，这种井眼校正方法称为自适应校正法。这种井眼校正方法的实质就是一个测井仪器偏心于二维井眼中的地质模型的反演。 这是一个用自适应井眼校正法和标准井眼校正法两种方法对同一井段进行井眼校正的对比图。图中的第一道为XY双井径曲线和自然伽玛曲线；从双井径曲线中可以看出该段井眼垮塌比较严重，测井仪器在这种情况下一般都会存在偏心现象，即使使用多个扶正器也无法保证测井仪器一定会居中，因此无法准确获得测井仪器在井眼中的位置。图中第二道是用自适应井眼校正法校正后的曲线；第三道是用标准井眼校正法校正后的曲线。从图中可以看出，在上述条件下，使用标准井眼校正法校正后的曲线出现了反序现象（即6条径向探测深度曲线不是按顺序出现的），而且在泥岩处经过标准井眼校正后的曲线也未重合，存在一个较大的幅度差。这些现象的出现一般都是由井眼校正不当造成的。产生这种现象的原因是由于测量时测井仪器并不居中，而使用标准井眼校正法进行井眼校正时是按仪器居中计算的。而使用自适应井眼校正法校正后的曲线则没有上述现象，获得了比较好的效果。 地层电阻率曲线的合成和反演 径向探测深度和纵向分辨率图 纵向响应函数 纵向 分辨率 径向响应函数 径向响应 探测深度 曲线合成 深度 半径（in） 阵列感应的数字聚焦处理技术的实质就是对所有的（经过多频趋肤校正和井眼校正后的）测量值寻找一组期望的滤波权系数，其曲线合成过程如图5所示。在处理程序的设计上则采用了最小平方技术，求出在不同地层电导率的情况下，不同子阵列的滤波权系数，然后将求得的滤波权系数代入下面这个合成公式，就可得到期望不同纵向分辨率的地层电阻率曲线。 式中：σia第I组线圈系经过校正后的电导率值； mary测量线圈系的总道数； WI（Z）每组线圈系的加权值 阵列感应测井曲线合成公式： 曲线合成 ■真分辨率聚焦 ■纵向分辨率匹配 滤波 合成 曲线合成 ▲ 真分辨率聚焦 曲线合成 ▲ 真分辨率聚焦 通过对不同探测深度子阵列数据进行一系列聚焦滤波与合成，得到一组将井眼影响降低到最低的、代表固定探测深度的电导率曲线 的技术 真分辨率曲线几何因子 分辨率 匹配 曲线合成 ▲ 纵向分辨率匹配 10