报批稿《 TD-SCDMAWCDMA 数字蜂窝移动通信网通用集成.docVIP

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报批稿《 TD-SCDMAWCDMA 数字蜂窝移动通信网通用集成.doc

报批稿《 TD-SCDMA/WCDMA 数字蜂窝移动通信网通用集成 电路卡(UICC)与终端间Cu 接口测试方法第1 部分: 终端物理、电气和逻辑特性》正在公示 代替 YD/T 1763.1-2008 原标准YD/T 1763系列标准是2008年发布的,依据国际标准版本为2005年3GPP R4系列及ETSI V4.5.0版本,经过4年技术演进,原系列国际标准部分项目测试方法及测试项数目已有较大变化,经过评估后决定使用2009年初的3GPP R7系列标准及ETSI V7.0.0版本(即TD-LTE阶段之前最终版本)对行业标准进行修订,以期通过此次标准修订工作保持行业标准先进性并与机卡接口国际最新技术进展保持同步。基于上述原因,启动了《YD/T 1763-2008 TD-SCDMA/WCDMA数字移动蜂窝通信网 通用用户识别模块(USIM)与终端(ME)间Cu接口测试方法》系列行业标准(共4部分)的修订工作。 该部分属YD/T 1763《TD-SCDMA/WCDMA数字移动蜂窝通信网 通用用户识别模块(USIM)与终端(ME)间Cu接口测试方法》系列标准之一,是对YD/T 1763.1-2008 《TD-SCDMA/WCDMA数字移动蜂窝通信网 通用用户识别模块(USIM)与终端(ME)间Cu接口测试方法第1部分:物理、电气和逻辑特性》的修订。 该部分规定了TD-SCDMA/WCDMA 数字蜂窝移动通信网UICC-ME(Cu)接口的物理、电气和逻辑特性的测试方法和预期结果。具体测试内容包括Cu 接口物理特性的测试、Cu 接口电气特性的测试、初始通信建立的测试、传输协议测试以及独立于应用的程序的测试等,适用于TD-SCDMA移动通信网UICC与终端间Cu接口的测试,也适用于WCDMA数字蜂窝移动通信网UICC与终端间Cu接口的测试。CDMA移动通信终端所使用的UICC卡可参照使用。 标准的技术内容已经在测试仪表使用及GCF/TCG认证过程和终端具体测试过程中验证标准修订后变化的内容。 该部分是修订标准,考虑到UICC-终端接口是国际通用的标准接口,在标准修订过程中参照了我国国标和3GPP和ETSI等标准组织较新版的标准对UICC卡的规格指标、物理电气逻辑特性、应用特性和USAT的相关要求。3GPP和ETSI目前对标准更新变化部分已有成熟的测试方法,并推动开发了系列的测试工具更新认证,所以在测试内容和测试方法上参照此新版本系列标准对原标准进行修订工作。 该部分主要修订内容如下: ? 适用范围增加了使用UICC卡的CDMA终端(见1); ? 将USIM改为UICC; ? 删除对A类操作条件的测试要求(见,5.1.2、5.1.3、5.1.5.1、5.1.5.2、5.1.5.5、5.2,YD/T 1763.1-2008); ? 增加了当终端支持UICC上应用的最大消耗电流时的测试(见5.2.2.3); ? 增加了F=512、D=32时的速率增强测试(见6.4); ? 删除了独立于应用的测试(见8,YD/T 1763.1-2008); 该次修订未改变原系列标准体间关系。该部分是TD-SCDMA/WCDMA数字移动蜂窝通信网 数字蜂窝移动通信网 通用集成电路卡(UICC)与终端间Cu接口系列标准之一,该系列标准和部分的名称如下: 1. TD-SCDMA/WCDMA 数字蜂窝移动通信网 通用集成电路卡(UICC)与终端间Cu接口技术要求 第1部分:物理、电气和逻辑特性; 2. TD-SCDMA/WCDMA 数字蜂窝移动通信网 通用集成电路卡(UICC)与终端间Cu接口技术要求 第2部分:通用用户识别模块(USIM)应用特性; 3. TD-SCDMA/WCDMA 数字蜂窝移动通信网 通用集成电路卡(UICC)与终端间Cu接口技术要求 第3部分:通用用户识别模块应用工具箱(USAT)特性; 4. TD-SCDMA/WCDMA 数字蜂窝移动通信网 通用集成电路卡(UICC)与终端间Cu接口测试方法 第1部分:终端物理、电气和逻辑特性; 5. TD-SCDMA/WCDMA 数字蜂窝移动通信网 通用集成电路卡(UICC)与终端间Cu接口测试方法 第2部分:终端通用用户识别模块(USIM)应用特性; 6. TD-SCDMA/WCDMA 数字蜂窝移动通信网 通用集成电路卡(UICC)与终端间Cu接口测试方法 第3部分:终端通用用户识别模块应用工具箱(USAT)应用特性; 7. TD-SCDMA/WCDMA 数字蜂窝移动通信网 通用集成电路卡(UICC)与终端间Cu接口测试方法 第4部分:支持通用用户识别模块(USIM)应用的UICC。 该部分为TD-SCDMA/WCDMA 数字蜂窝移动通信网 通用集成电路卡(UICC)与终端间Cu接口测试方法的第1部分。本部

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