SPC技术实战--公开课.ppt

品保培训资料 沃尔特?安德鲁?休哈特（Walter Andrew Shewhart） 1891年3月18日生于伊利诺伊州纽坎顿 1967年3月11卒于新泽西州特诺伊山 休哈特主要的职业生涯在贝尔电话实验室（Bell Telephone Laboratories)[现为朗讯科技（Lucent Technologies）]渡过。 1924年，他首次应用统计方法与质量控制之中，他制作了世界第一张控制图。1931年，他出版《制造业产品品质的经济控制》。1947年，美国质量控制协会（ASQC）才认识到休哈特的重要贡献。从1950年开始，他的同事及学生戴明博士（Edwards Deming）将休哈特的控制理论传授给日本人。过去二十年来，休哈特的控制理论和控制图已成为世界标准。 统计控制概述 统计控制概述之一 过程控制的需要 检测——容忍浪费 预防——避免浪费  SPC基础 产品质量的统计观点（一）： 产品质量具有变异性 影响产品质量的因素有6M： Man：人 Machine：机 Material：料 Method：法 Mother-nature： 环 Measurement：测 无论人类社会如何进步发展，产品质量不可能保持绝对恒定，一定具有变异性。 SPC基础 产品质量的统计观点（二） 产品质量的变异具有统计规律性 确定性现象 确定性规律：在一定条件下，必然发生或不可能发生的事件。如一个大气压（760mm汞柱）下，H2O的变化规律。 温度 ≤0℃ 固体状态 温度 0℃ t 100℃ 液体状态 温度 ≥100℃ 气体状态 随机现象 统计规律：在一定条件下事件可能发生也可能不发生的现象。如我们无法预知内存电性能测试合格率大于99%，但大量统计数据证明有90%的可能性大于99% 。 SPC基础 分布（Distribution）：用来描述随机现象的统计规律，说明两个问题：变异的幅度有多大；出现这么大幅度的概率。 计量特性值：如PCB金手指厚度、重量或时间等连续性数据，最常见的是正态分布（normal distribution）。 计件特性值：如内存合格/不合格两种离散性数据，最常见的是二项分布（binomial distribution）。 计点特性值：如每条内存上少锡点数等离数性数据，最常见的是泊松分布（Poisson distribution）。 由于二项分布和泊松分布数据统计理论较复杂，以下讨论以正态分布为例。 SPC基础 SPC基础 正态分布：直方图所取得数据越多，分组越密，则直方图就越趋近一条光滑的曲线。 这条光滑的曲线就形成正态分布曲线，其特点是中间高，两头低，左右对称并延伸至无穷。 SPC基础 正态分布特征： 正态分布是一条曲线，讨论起来不方便，故用其两个参数描述其特征： 1.平均值 （average） 2.标准差 （standard deviation） 说明：（1）平方是为了避免正负抵消 （2） 是求平均值 （3） 是为了避免单位变化或无故放大 SPC基础 SPC基础 SPC基础 正态分布平均值与标准差的关系 平均值与标准差是相互独立的。无论平均值如何变化都不会改变正态分布的形状，即标准差 ? ；无论标准差如何变化，也不会影响数据的对称中心，即平均值μ。 质量管理的发展史就是与 μ和 ? 斗争的历史，就是优化μ值（提高或降低）和缩小? 值的历史。 SPC基础 3 原则 不论μ与 取值为何，只要上下限距中心值（平均值）的距离各为3 ，则产品质量特征值落在 范围内的为99.73%，这是数学计算的精确值，应该牢牢记住。