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毕业设计(论文)AT89C51单片机中英文文献翻译.doc 15页

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AT89C51的概况 1 AT89C51的应用 单片机广泛应用于商业:诸如调制解调器,电动机控制系统,空调控制系统,汽车发动机和其他一些领域。这些单片机的高速处理速度和增强型外围设备集合使得它们适合于这种高速事件应用场合。然而,这些关键应用领域也要求这些单片机高度可靠。强健的测试环境和用于验证这些无论在元部件层次还是系统级别的单片机的合适的工具环境保证了高可靠性和低市场风险。Intel 平台工程部门开发了一种面向对象的用于验证它的 AT89C51 汽车单片机多线性测试环境。这种环境的目标不仅是为 AT89C51 汽车单片机提供一种强健的测试环境,而且开发一种能够容易扩展并重复用来验证其他几种将来的单片机的环境。开发的这种环境连接了 AT89C51。本文讨论了这种测试环境的设计和原理,它的和各种硬件/软件环境部件的交互性,以及如何使用 AT89C51。 1.1 介绍 8 位 AT89C51 CHMOS 工艺单片机被设计用于处理高速计算和快速输入/输出。MCS51 单片机典型地应用于高速事件控制系统。商业应用包括调制解调器、电动机控制系统、打印机、影印机、空调控制系统、磁盘驱动器和医疗设备。汽车工业把 MCS51 单片机用于发动机控制系统,悬挂系统和反锁制动系统。AT89C51 尤其很好适用于得益于它的处理速度和增强型片的外围功能集,诸如:汽车动力控制、车辆动态悬挂、反锁制动和稳定性控制应用。由于这些决定性应用,市场需要一种可靠的具有低干扰潜伏响应的成本-效益控制器、服务大量时间和事件驱动的在实时应用中需要的集成外围的能力,具有在单一程序包中高出平均处理功率的中央处理器。拥有操作不可预测的设备的经济和法律风险是很高的。一旦进入市场,尤其在任务决定性应用诸如自动驾驶仪或反锁制动系统中,错误将是财力上所禁止的。重新设计的费用可以高达 500K 美元,如果产品族享有同样内核和/或外围设计缺陷的话,费用会更高。另外,部件的替代品领域是极其昂贵的,因为设备要用来把模块典型地焊接成一个总体的价值比各个部件高几倍。为了缓和这些问题,在最坏的环境和电压条件下对这些单片机进行无论在部件级别还是系统级别上的综合测试是必需的。Intel Chandler平台工程组提供了各种单片机和处理器的系统验证。这种系统的验证处理可以被分解为三个主要部分。系统的类型和应用需求决定了能够在设备上执行的测试类型。 1.2 AT89C51提供以下标准功能: 4 千字节的 FLASH (闪速存储器)、128 字节的内部 RAM (随机存取存储器)、32个I/O (输入/输出)接口线、2个16 位定时/计数器、一个 5 向量两级中断结构、一个全双工串行通信口、片内振荡器及时钟电路。此外,AT89C51 降至 0 Hz 的静态逻辑操作,并支持两种可选的节电工作模式。空闲方式体制阻止 CPU 的工作,但允许 RAM(随机存取存储器)、定时/计数器、串行通信口及中断系统继续运行。掉电方式保存 RAM 中的内容,但振荡器体制工作并禁止其他所有不见工作直到下一个硬件复位。 图1-2-1 AT89C51 方框图 1.3引脚功能说明 ·VCC:电源电压 ·GND:地 ·Port 0:P0 是一组 8 位漏极开路型双向 I/O (输入/输出)口,也即地址/数据总线复用。作为输出口用时,每位能吸收电流的方式驱动8个TTL 逻辑门电路,对端口写“1”可作为高阻抗输入端用。在访问外部数据存储器或程序存储器时,这组口线分时转换地址(低8 位)和数据总线复用,在访问期间激活内部上拉电阻。在Flash 编程时,P0 口接受指令字节,而在程序校验时,输出指令字节。校验时,要求外接上拉电阻。 ·Port 1:P1 是一个带内部上拉电阻的8 位双向I/O(输入/输出)口,P1 的输出缓冲级可驱动(吸收或输出电流)4个TTL 逻辑门电路。对端口写“1”,通过内部的上拉电阻把端口拉到高电平,此时可作输入口。作为输入口使用时,因为内部存在上拉电阻,某个引脚被外部信号拉低时会输出一个电流(IIL)。Flash 编程和程序校验期间,P1 接受低8 位地址。 ·Port 2:P2 是一个带有内部上拉电阻的8 位双向I/O(输入/输出) 口,P2 的输出缓冲级可驱动(吸收或输出电流)4个TTL 逻辑门电路。对端口写“1”,通过内部的上拉电阻把端口拉到高电平,此时可作输入口。作为输入口使用时,因为内部存在上拉电阻,某个引脚被外部信号拉低时会输出一个电流(IIL)。在访问外部程序存储器或16 位四肢的外部数据存储器(例如执行MOVX @DPTR指令)时,P2 口送出高8 位地址数据,在访问8 位地址的外部数据存储器(例如执行MOVX @ RI 指令)时,P2 口线上的内容(也即特殊功

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