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维普资讯 第 24卷 第 4期 核 电子学与探测技术 Vo1．24 No．4 2004年 7月 NuclearElectronics DetectionTechnology July 2004 硅漂移 SDD 阵列探测器 X射线能谱测量诊断 杨进蔚 ，张 炜，宋先瑛，李 旭 核工业西南物理研究院，四川成都 610041 摘要 ：采用最新的 SDD探测器阵列测量HL一2A托卡马克等离子体软 X射线 1～20keV 辐射的能 谱 ，获得 电子温度、z 、重金属杂质含量绝对值及其时、空分布。由于SDD探测器较之传统的Si Li 探测 器有体积小、计数率高 ≥10／s ，能量分辨和量子效率高，不需液氮冷却的特点 ，并采用高速 ADC和海 量缓存器 ，电子温度测量的时、空分辨能力接近汤姆逊散射 和ECE等方法 ．而测量精确度 、使用寿命 、造 价、抗干扰能力、适应性等方面优于后者 ．且信息获取量大 ，可获得多种等离子体参数而备受重视 ，是一 种最先进 的诊断手段 。 关键词 ：硅漂移探测器 ；软 X射线能谱 ；电子温度 中图分类号 ：TL814；TL812．1 文献标识码 ：A 文章编号：0258—0934 2004 04—0331-04 O 引言 探测器可工作在室温或一20℃，采用电制冷 ，其 体积大大缩小，可方便地做成多通道阵列，因其 磁约束聚变装置 中，利用高温等离子体 自 阳极 电容很小，仅 150pF，脉冲成形时间≤0．15 身辐射的 X射线作为诊断工具 ，为测量等离子 体重要的物理参数和热聚变研究提供了便利的 s，脉冲宽度≤0．5s，故其计数率很高，可达 诊断手段，特别是热核聚变 的研究方 向已集 中 10／s以上，能谱 的时间分辨可达 1～2ms，这使 到等离子体 中心区域并 向堆芯模拟方 向发展 的 x射线能谱法测量 电子温度发生了很大的变 今天，X射线更适合于探测大 中型托卡马克芯 革 ，它 比汤姆逊散射法的测量误差小，且有较好 部区域的物理参数和聚变衍生的物理过程而被 的时、空分辨，与 电子 回旋辐射法 ECE 相 比 广泛使用，其 中x射线能谱法多年来一直用于 较，时、空分辨能力相近，但可做绝对测量，并且 电子速度分布 、电子温度及 Cr、Fe、Ni、Mo等 受超热电子和逃逸 电子 的影响较ECE小。随着 重金属杂质含量 ，有效 Z 测量 ，如果拓宽系统 托卡马克芯部等离子体的温度进一步提高，X 的能量测量范 围，还可得到逃逸 电子行为、逃逸 射线能谱法更显出其技术优势 。事实上，现在正 率、逃逸 电流、电流驱动效果、超热电子分布、超 在运行 的托卡马克均采用多种方法测量 电子温 热 电子温度 、辅助加热时的能量沉积等方面 的 度和离子温度，其 目的在于提高测量的精确度 数据和信息。在电子温度测量中，传统的X射 和可靠性，其中X射线能谱法 以其精确度高， 线能谱法使用 si Li 漂移探测器 ，它必须在液 使用寿命长，造价较低，抗干扰能力强，适应于 氮冷却条件下工作和保存 ，大体积的杜瓦瓶 通 各种放电条件 ，信息获取量大等优势受重视，可 常 35L 使探测器体积庞大 ，很难做成多通道阵 作为电子速率分布、Ze“分布、重杂质分布及主 列，没有空间分辨能力；其次，其计数率较低 ，因 要的电子温度绝对测量的重要诊断设备。 此时间分辨受到限制 。近几年研制成功的SDD l