SJT 11207-1999 钇铁石榴石单晶磁性薄膜磁特性的测量方法.pdf

SJ 中华人民共和国电子行业标准 SJ/T11207一 1999 纪铁石榴石单晶磁性薄膜 磁特性的测量方法 Measurementofmagneticproperties ofYIG如沙ecrystalmagnetic一川.， 1999一08一26发布 1999一12一01实施 中华人民共和国信息产业部 发布 前 言 本标准是根据中华人民共和国国家标准 GB/r1.1-1993(标准化工作导则，第一单元: 标准的起草与表述规则，第一部分:标准编写的基本规定)而编制的电子行业标准。 近年来，静磁波器件和磁光器件作为一种新型信号处理器件在信息技术领域应用越来越 广泛，本标准是为了准确评价上述器件所使用的单晶薄膜磁性材料的质量，以促进我国这类 新型电子产品的发展。 本标准主要规定了YIG单晶薄膜磁性材料五个重要参数即铁磁共振线度dH、立方磁各 向异性常数KI、单轴磁各向异性常数K、旋磁比Y和饱和磁化强度M.的测量方法。 本标准的附录A为标准的附录。 本标准由全国磁性元件与铁氧体材料标准化技术委员会归口。 本标准起草单位:华中理工大学。 本标准主要起草人:周世昌、攀林慧、刘耽衍.贺洪波、赵振声。 本标准于 1999年8月首次发布。 中 华 人 民 共 和 国 电子 行 业 标 准 忆铁石榴石单晶磁性 SVT11207一 1999 薄膜磁特性的测里方法 Measurementofmagneticproperties ofYIGsi卿ecrystalmagnetic一film 范 围 本标准规定了频率为10GHz下的忆铁石榴石 (YIG)单晶磁性薄膜材料的铁磁共振线宽 dH、立方磁各向异性常数K,、单轴磁各向异性常数K、旋磁比Y和饱和磁化强度M。的测 量方法。 本标准适用于液相外延生长的具有立方晶体结构的单晶铁氧体薄膜材料的测量。 2 引用标准 下列标准所包含的条文，通过在本标准中引用而构成为本标准的条文。本标准出版时， 所示版本均为有效。所有标准都会被修订，使用本标准的各方应探讨使用下列标准新版本的 可能性 。 GB9633- 8 微波频率应用的旋磁材料性能测试方法 GB 9637- 8 磁学基本术语和定义 3 定义 本标准采用下列定义，其它定义应符合GB9633及GB9637的规定。 铁磁共振线宽4H FMRlinewidthDH 当静磁场既垂直于单晶薄膜的膜面又垂直于微波磁场时，共振吸收曲线具有洛伦兹线 型，共振吸收曲线半高点的两个磁场的差值，即为铁磁共振线宽 乙衬。 3.2 立方磁各向异性常数K,cubicanisotropyconstantsK, 考虑自发形变之后，立方晶体磁各向异性能密度FK的表达式为: Fk二Kp+K,(。予。呈+aza蛋+。子Q2)+K2(ajaia苦)+·“… 中华人民共和国信息产业部 1999一08一26发布 1999一12一01实施 曰/T1121刃一 】臾珍 式中:Ko.Kt.凡 — 立方磁各向异性常数; ai(i=1,2,3)— 磁化强度分别对立方晶轴的方向余弦。 3.3单轴磁各向异性常数Kunarialani pconstantsK 只有一个易磁化轴的磁各向异性，其各向异性能密度Fk的表达式为: Ft=Ksinz8 式中:Ko— 单轴磁各向异性常数; B—