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耦合电容器高频电容温度频率特性研究 刘翔，叶国雄，郭克勤，杨帆，冯翔翔，黄华，陈鹏，刘彬，万罡 （国网电力科学研究院，武汉，430074 ） 摘要：在电力线路载波系统中，耦合电容器电容的变化会影响到电力载波通讯的质量。为了研究耦合电容器 在载波频率下电容的变化规律，本文对耦合电容器高频下电容的温度频率特性进行了研究，使用RLC 电桥对 不同温度不同载波频率下耦合电容器的电容量进行测量，测量结果表明，在温度不变的情况下，耦合电容器 的高频电容量随着频率的升高而增大；随着测试频率的升高，电容器高频电容温度系数的绝对值也是变大的。 关键词：电力载波， 耦合电容器， 高频电容， 温度系数 1、引言 在电力线路载波系统中，载波系统用耦合电容器本身电容的变化或引进了杂散参量，都 会影响传输带宽（有效频带），会使这一频带偏移和产生附加的耦合衰减，从而影响电力载波 通讯质量。所以国家标准GB/T19749-2005 《耦合电容器及电容分压器》中规定，对于载波频 率为 30kHz~500kHz 的高压架空线路地电力线路载波系统用的耦合电容器，其在 30kHz~500kHz 频率下线路端子和低电压端子之间的实测电容对额定电容的相对偏差应不大 于-20%~+50% ，测量温度为耦合电容器的温度类别极限值的两个温度和标准试验温度 （+5 ℃~+35 ℃）范围内的一个温度。但是由于试验条件的限制，一般对于耦合电容器高频电 容的测量，只是在标准试验温度（+5 ℃~+35 ℃）范围内的一个温度下进行的，没有测量极限 温度下的高频电容，由于耦合电容器电容量随着温度变化而变化，所以在标准试验温度范围 内的一个温度下测量的耦合电容器的高频电容值不能反映耦合电容器的高频电容是否符合标 准要求。本文对耦合电容器高频电容的温度频率特性进行试验研究，测量不同温度下耦合电 容器的高频电容，研究其变化规律，并研究杂散电容对耦合电容器的影响。 2 、试验研究 根据标准 GB/T19749-2005 中关于高频电容测量的建议，尽可能减少测量连接线的电容和 电感（尽量减小它的长度），为了把测量连接线引起的电感减少到可以忽略，采用两只互相绝 缘的笼子，笼子必须能将被测电容器罩起来，并且必须在整个长度上与绝缘外壳密切接触， 上部笼子的一端与电容器线路端子连接，下部笼子的一端必须与电容器低压端子连接，测量 设备使用尽可能短的线连接到笼子的另外两端，如图 1 所示。本文试验中，为了保证制作的 笼子与耦合电容器密切连接，使用锡箔纸将耦合电容器包起来，锡箔纸紧贴耦合电容器瓷套， 形成两个笼子。试验中耦合电容器极限温度环境是使用国网电科院电气设备质量检验测试中 心互感器质检站的高低温控制箱实现的，该高低温控制箱的尺寸为 3m×4m×8m ，可控温度 -40 ℃～+80 ℃,能够满足耦合电容器极限温度的要求，试验中将包好的耦合电容器置于高低温 试验箱中，在所需的温度中保持8 小时，待耦合电容器温度稳定后进行测量，测量仪器为HIOKI 生产的RCL 电桥，可测电容频率范围为10Hz～1MHz 以上。 图1. 耦合电容器高频电容测量接线图 本文中，测量对象为额定电容量为 10000pF、额定电压110/√3kV的耦合电容器，耦合电 容器温度类别为-40/B ，即温度范围为-40 ℃～+45 ℃，该耦合电容器实测电容量在20 ℃、50Hz 的条件下为10973pF，为了更好的研究耦合电容器在不同温度下的高频电容特性和高频下的电 容温度变化特性，我们在-40 ℃、-25 ℃、-10℃、5℃、20℃、35℃、60℃下分别测量耦合电容 器在高频下的电容量，测试频率为30kHz、50 kHz、100 kHz、200 kHz、300 kHz、400 kHz 和 500 kHz，所得数据见表1. 表1 不同温度下的耦合电容器高频电容量 单位 pF 30kHz 50 kHz 100 kHz 200 kHz 300 kHz 400 kHz 500 kHz -40℃ 11259 11272 11308 11439 11666 11997 12450 -25℃ 11224 11236 11265 11374 11561 11830 1225