zno 压敏陶瓷界面态起源与实质的研究.pdfVIP

第29卷，第5期 红 外 文章编号:1672一8785(2008)05-0037一04 ZnO压敏陶瓷界面态起源与本质的研究 孟继柯1 李 莉2 (1.太原科技大学，山西太原 030024;2.山西大学，山西太原 030006) 摘 要:以双肖特基势垒模型为基础，分析了zno压敏陶瓷中界面态的起源及本质. 分析结果认为，在晶界处，大离子半径的Bi和Ba偏析至界面，是造成界面态密度从 的主要原因;氧以化学吸附氧的形式存在，对提高界面态密度也起关键作用.因此， zno压敏陶瓷中的界面态主要来源于非本征界面态.对界面态本质讨论的结果认为， 应区分界面态密度从及有效界面态密度n。，在做上述区分后，导电机理的解释及势 垒高度小。的计算将更趋于合理化. 关键词:zno压敏陶瓷;肖特基势垒;界面态;非线性性能 中图分类号:TN304.93 文献标识码:A