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- 2017-09-13 发布于安徽
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GaN 共振隧穿二极管及 THz 振荡器仿真#
何寒冰,杨林安,郝跃,武小虎,梅楠**
(西安电子科技大学微电子学院,西安 710071)
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摘要:本文利用 Silvaco 软件对 GaN 共振隧穿二极管(GaN RTD)进行仿真,重点考虑了界
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着测量次数的增加而退化。同时结合 Hspice,对由 GaN RTD 构成的 THz 振荡器进行仿真,
首次得到了陷阱密度对振荡器输出功率和 RF 转化效率交流特性影响的定量结果。
关键词:GaN 共振隧穿二极管;AlGaN/GaN 异质结;界面陷阱
中图分类号:TN389
Simulation of GaN based Resonant tunneling diode (RTD)
and Terahertz Oscillators
HE Hanbing, YANG Lin’an, HAO Yue, WU Xiaohu, MEI Nan
(School of Microelectronics, Xidian University, Xi’an 710071)
Abstract: In this paper, using the Silvaco simulator, GaN RTD is studied. Considering the
influence
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