探头对被测电路影响.pdfVIP

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逻辑分析仪应用从入门到精通(二十) 探头对被测电路的影响 引言 示波器、逻辑分析仪探头的使用往往会改变被测电路的工作状态。的确,我们都碰到过 类似的情形:当用探头测试电路时,电路工作正常,而一旦将探头移开,电路的功能就会紊 乱。这是一种常见的现象,也正是我们要讨论的由示波器、逻辑分析仪探头引起的电路负载 效应问题。 探头频率-阻抗特性 任何类型探头的目标都是尽可能对系统提供最小的电负荷。如果探头对系统性能的影响 太大,那么探头将不能帮助设计人员检验系统,因为故障原因可能完全是由探头引起的。隔 离故障对有效检验故障非常重要,因此,设计人员必须能够预测探头对系统的影响,而不管 其是可以忽略不计,还是占主导地位。 一般来说,示波器、逻辑分析仪的探头负荷模型如图 1所示。 图 1 简化的逻辑分析仪探头负荷模型 在较低频率上,电阻器会主导探头阻抗,此时对目标的影响最小。这是因为探头阻抗一 般在100kΩ,而目标一般在50~75Ω。两个阻抗并联,会产生最接近目标的阻抗。常见探头 在频率提高时,探头开始引入电容,其阻抗开始滚降。一旦阻抗达到目标阻抗的数量级上, 来自探头的反射会成为重要问题。 图 2 来自于《High-speed Digital Design——A Handbook of Black Magic》Figure 3.11 Probe input impedance。从图可以知道:探头的并联电容越高,阻抗会越低。在高频时, 只有并联电容比较重要。 图 2 Probe input impedance 图 3 为广州致远电子有限公司研制的LA-Probe-E 逻辑分析仪探头,由于其在探尖采用 了独特的阻尼技术,即使在高频部分(大于100MHz)其输入阻抗也大于550Ω。正是由于高 1 逻辑分析仪应用从入门到精通(二十) 频时仍具有如此大的输入阻抗(一般高频线缆定义阻抗Z =50Ω 。普通示波器探头频率-阻抗 0 特性如图 2 所示)使得LA-Probe-E 逻辑分析仪探头具有及其优异的性能。 图 3 LA-Probe-E 测量线 LA-Probe-E测量线输入阻抗——频率特性 1000000 100000 ) 10000 姆 欧 ( 抗 1000 阻 入 输 100 10 1 1 10 100 1000 10000 100000 10000001E+08 1E+09 频率(赫兹) 图 4 LA-Probe-E 输入阻抗——频率特性曲线 测试测量方法 为了测试探头对被测电路的影响,采用图 5 所示的电路来测试。实际采用校准仪(Fluke 5520A)+示波器(LeCroy WavePro 7100A)的方法来实现Scope TDT input。 图 5 TDT measurem

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