“光荧光”光谱测试系统设计.pdfVIP

技术 》》》 doi：10．3969Q．issn．1563-4795．2012．03．012 光荧光’’光谱测试系统设计 郑大坤，邹继军 (东华理工大学机械与电子工程学院， 344000) 摘 要 ：光荧光 fPhotoluminescence，eL)是材料吸收光子后的一种 自发放射。由于光荧光光 谱对于检测半导体材料的光特性是一个有力而又无破坏的技术 ，根据放射特征光谱分析可获 取材料的掺杂杂质种类、能隙大小、化合物 中的组成成分、载流子寿命等重要讯息。文 中从 硬件和软件两个方面进行阐述 ．着重于光荧光光谱测试系统设计 ，完成测量光谱范围达到 200—2000nm，测试精度达到lnA (1V)，克服 了传统测试系统灵敏度不高、测试光谱范围有 限的缺 点 。 关键字 ：光 荧光 ：系统设计 ；光谱特性 当某种常温物质经某种波长 的入射光照射 行突破 ，测量光谱范围达到200—2000nm，测试精 后 ，原子或电子吸收光能后进入激发态 ，并且立 度达到lnA (I