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电于计算机外部设备 1990年第 i期
GTS一100通用HDA测试仪简介
胡 建 艮
(杭州磁记录设备厂 )
捐 要
HDA 胡4试仅是温盘驱动器生产过程中的三支关键蠲f试设备之一。本文 系统的角度 出发,
_
对GTs—loo通用HDA测试仪的原理,乐兢硬,软件扣蠢键徙拳甥莲等避行7简明扼要的夼吼
0 概述
随着温盘驱动器按术的不断发展.专用测试设备也向着 多功 能,多用选,高精度发
展,而这些测试设备也为驱动器技术的进一步发展提供了一个强有力的测试、开发手段。
由于驱动器专用测试设备涉及到许多驱动器 以外的技术问题,所 以国内还没有专 门的厂家
来生产这类设备。
I985年我厂从美国CDC公司引进8英寸温盘生产线时,曾引进 了一台用于HDA盘面疵
点测试的ETF(错误磁道格式化)测试仪,但该测试仪只能用于8英寸温盘的ETF测试。
为了解决我国小温盘的HDA测试问题,通过对.迹 1邈设备的消化吸收,我们从伯88
年 3月开始着手通用HDA测 试 仪的研制工作,并根据 国家 “七 ·五 种技攻关项 目阿要
求,对通用HDA测试仪制定了较高的技术指标和较全的测试功能。经过半年多的努力,我
们终于开发 、研制成功GTS—100通用HDA测试仪。其各项功能及指标完全达到或超过原设
计要求,井于1988年1z月 8目通过技术鉴定。 . ,
l 测试功能及原理
所谓HDA测试仪.它应包括下述三个方面的测试功能:
(1)HDA功能测试
·起动时间测试
*主轴转速测试
·“头选”和 “台选”功能测试
*初寻测试
* 找道时间测试
·预读 /写铡试
33’
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(2)HDA参数测试
·磁道平均幅度测试
·分辨率测试
·重写特性测试
·窗 口裕量测试
(8)HDA盘面疵 点测试
·调 j度测试
·丢位测试
*冒位测试
*数字校验
其中,HDA功能测试主要反映THDA的找道及读 /写功能,而HDA参数测试则对HDA
头、盘的内在特性及装配情况进行了定量的测试IHDA盘面疵点测试除对盘片进行疵点扫
描外,还要为台格的温盘提供一张盘片疵点表。所以盘面疵点测试也称E1测试。
下面分别对上述各测试进行描述。
起动时阃莉试
加电后开始计时,READY信号出现时结束计时。该测试反映了主轴 电机 以及其它有关
部件的工作及装配情况。
主轴辑逮测试
测试索引时间是否落在指定范围之 内。该测试反映THDAs~轴的稳速性能,即t
面 可 面 ≤n≤ 耵 百面
其中Tl为索 引时间,RPM为主轴转速。
“头”、 “台”选测试
选中被测驱动器、格式化 “O”道所有头,然后读 回所有头的头标,并加 以比较。
栩耳测试 ’
格式亿 “O”道及最大道,然后寻找 “O”道及最大道,并读 回 “0”道及 最大 道的头
标.进行比较。
找嫩时间测试
对HDA的找道时间进行测试,并给出相邻道找道时间、平均找道时间及最大 找道时
间。具体测试方法如下t
相邻找道时间
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