磁偏转小型质谱仪实验中钼带温度测量的新方法.pdfVIP

磁偏转小型质谱仪实验中钼带温度测量的新方法 罗胤（复旦大学 物理系，上海 200433 ） 摘要：本文主要介绍磁偏转小型质谱仪实验中对钼带温度测量的新方法，通过测量得出温度 与钼带单位长度电功率、平均电阻率的普适关系，对质谱实验中的温度测定提供帮助。 关键词：小型质谱仪 温度测量 平均电阻率 单位长度电功率 一、引言 质谱仪是利用带电粒子在电磁场中的运动规律，实现按质荷比进行分离，从而探测物质 的组分与含量的实验仪器。 本实验采用磁偏转小型质谱仪，使用表面电离型离子源。表面电离型离子源由一定尺寸 的表面涂有样品的钼带和离子引出孔（出射缝）组成，当钼带温度足够高时，样品将分解， 并以原子形式发射到空间，此时，金属表面被一定浓度的原子所包围，撞击到灼热金属表面 的原子可以发生电离，并在加速电场的作用下进入质量分析器。在这个过程中，金属原子的 电离效率可近似地表示为温度的函数，为了研究不同样品的分解温度、离子流发射温度以及 电离效率与温度之间的关系，必须对实验过程中的钼带进行实时的温度测量。但是，在大多 数的磁偏转小型质谱仪中并没有温度传感器，并且对涂有样品的钼带进行温度测量有一定的 操作难度，故通常的做法是将一条没有涂样品的相同尺寸的钼带在一台可以进行温度测量的 仪器中，加以相同大小的电流