X射线荧光光谱法测定含金石英石中7种成分.pdfVIP

2011年 10月 岩 矿 测 试 V0l_30．No．5 0ctober201l R0CK AND MINERALANALYSIS 580～583 文章编号：0254—5357(2011)05—0580—04 x射线荧光光谱法测定含金石英石中7种成分 刘 艳 ，曾 静 ，胡军凯 ，李玉琴 ，冯朝军 (1．大冶有色金属公司分析测试 中心，湖北 黄石 435005； 2．湖北省鄂东南地质大队，湖北 大冶 435100) 摘要：采用粉末直接压片，波长色散多道荧光光谱法快速测定含金石英石样品中SiO、A10、TFeO、CaO、MgO、 Pb、zn等7种成分。根据含金石英石中SiO的含量范围，选取了与试样基体相匹配的含金石英生产样作为校准 样品，采用化学法准确定值，确定了仪器的最佳分析参数。对于 si和Al轻元素，荧光强度随粒度变化较为显著； 制作的校准样品应密封保存 ，粉末压片后需马上进行测试。方法操作简单，成本低 ，测定范围宽，灵敏度高，精密 度 (RSD，n=l1)均小于2．5％。与化学法对照，结果符合较好。