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PCB 測試方案測試方案/最佳的實踐最佳的實踐 測試方案測試方案最佳的實踐最佳的實踐 1 簡介簡介 簡介簡介 為了讓測試結果的對比有據可依, 我們需要一個定義完整的測試方案 。制定這個測試方案 的目的是為了明確規定一些重要的測試參數 ，這樣即使用不同的機器做檢測也能得到近似 的結果。此文列出一些基本建議，不同的樣品需做出相應調節以期得到最優測試結果。當 測試參數不同時 ，不同用戶之間應互相協商達到一致的測試條件。 2 硬體硬體 硬體硬體 為得到最好的表面測量結果 ，建議使用Akrometrix TherMoiré AXP 或帶有 Studio 的 PS400 升級版 。同時建議使用100LPI （每英寸100 條光柵條）的光柵和可變焦鏡頭 。 特別要注意一下每個測試要選擇的視野範圍 。由於變焦鏡頭沒有制停點，所以不同機台間 使用相同大小的 ROI （感興趣區域）尤其重要。用戶要應用圖元尺寸來設置ROI ，通過 調節鏡頭的焦距 ，使ROI 的邊界對準樣品邊界。不同的可視範圍和光柵適用於不同的應 用。當這些配置不同於標準配置時，不同部門應該互相協調以期使用相同的硬體配置。 3 校驗校驗 ( 條紋值條紋值 / 條紋高度條紋高度) 校驗校驗 條紋值條紋值 條紋高度條紋高度 在測量樣品之前, 所有機台都需要通過校驗來確保測量的精確度 。校驗應根據每台設備的 操作手冊來進行 ，並使用最新的校驗標準。建議校驗塊每年送Akrometrix 重新做校準 。 機台校驗將算出一個唯一的常數 （Fringe Value ），並確保系統精度在正負2.5µm 或正負 3%的測量值以內 ，二者取其大。 如果室溫下 3D 結果可以看到有週期性的波紋 ，並且波紋頻率是相點陣圖中條紋頻率的兩 倍（見圖 1），這樣就要確保在測量過程中樣品不要碰到光柵 。如果樣品沒有碰到光柵而 仍然有這個問題，另外一個恒定參數“條紋高度（Fringe Height ）”可能要做一下校 準。可聯繫 Akrometrix 索取詳細的步驟。如果沒有看到波紋，條紋高度應該是校驗準確 了。 圖 相位圖片以及帶有週期條紋的 表面圖特徵曲線實例 1 3D 50-7100-0002 Rev. A 1 of 7 4 樣品特徵樣品特徵 樣品特徵樣品特徵 這裏推薦一些適用於 Akrometrix TherMoiré 系統測量的樣品特徵以及樣品測量之前的準 備方案。首先，所有TherMoiré 系統上的測量方式最適用於測量光滑連續的表面。也就 是說 ，表面上沒有臺階。PCB 裸板是這種理想表面的一個典型例子 。如果PCB 上有貼裝 元件 ，就變成表面不夠理想的例子了。在這種情況下， 板仍然可以測量 ，但我們無 PCB 法測得板上元件之間以及元件與板之間的關係 。 除了光滑連續的原則之外 ，使用摩爾影子 (shadow moiré) 技術還要求測量表面最好是白 色的漫反射面。這樣的樣品表面測得的結果雜訊最小，摩爾條紋的對比度也最好。為了獲 得這種表面效果，樣品表面上需塗一層很薄的高熱白漆。塗層需均勻分佈在整個樣品表面 並呈半透明狀 ，這樣表面特性不會被完全掩蓋（見圖見圖2 ）。