第5章 电子元器件参数测量与仪器应用.pptVIP

3、晶体管特性图示仪 4、典型仪器介绍——XJ4810型晶体管特性图示仪 XJ4810型半导体晶体管特性图示仪是一种典型的晶体管特性图示仪，它具有前述图示仪所具备的测试功能，可满足对各类半导体分立器件的测试要求。它还增设集电极双向扫描电路，可在屏幕上同时观察二极管的正、反向特性曲线；具有双簇曲线显示功能，易于对晶体管配对。 4、典型仪器介绍——XJ4810型晶体管特性图示仪 主要技术性能 （1）集电极电流：10μA/div~0.5A/div，分15挡。 （2）二极管反向漏电流：0.2~5μA/div，分5挡。 （3）集电极电压： 0.05~50V /div，分10挡。 （4）基极电压： 0.05~1V /div，分5挡。 4、典型仪器介绍——XJ4810型晶体管特性图示仪 主要技术性能 （5）阶梯电流： 0.2μA/级~50mA/级，分17挡。 （6）阶梯电压： 0.05~1V /级，分5挡。 （7）集电极扫描峰值电压： 10~500V，分4挡。 （8）功耗限制电阻： 0~0.5M?，分11挡。 4、典型仪器介绍——XJ4810型晶体管特性图示仪 2） 工作原理 XJ4810型半导体晶体管特性图示仪的工作原理与一般的晶体管图示仪基本相同。为方便使用增设“二簇电子开关”。阶梯信号每次复零时，“二簇电子开关”将阶梯信号交替送至其中一只被测管的基极，实现了在屏幕上同时显示两只晶体管的特性曲线的目的。 4、典型仪器介绍——XJ4810型晶体管特性图示仪 3）面板说明 XJ4810型半导体晶体管特性图示仪的面板如图5-33所示。主要可划分为七部分： （1）电源及示波管控制部分 （2）集电极电源部分 （3）Y轴部分 （4）X轴部分 4、典型仪器介绍——XJ4810型晶体管特性图示仪 3）面板说明 XJ4810型半导体晶体管特性图示仪的面板如图5-33所示。主要可划分为七部分： （5）显示部分 （6）阶梯信号部分 （7）测试台部分 4、典型仪器介绍——XJ4810型晶体管特性图示仪 4）使用方法 （1）开启电源，指示灯亮，预热10min。 （2）调节“辉度”、“聚焦”、“辅助聚焦”旋钮，使屏幕上的光点或线条明亮、清晰。 （3）灵敏度校准。 4、典型仪器介绍——XJ4810型晶体管特性图示仪 4）使用方法 （4）阶梯调零。当测试中用到阶梯信号时，必须先进行阶梯调零，其目的是使阶梯信号的起始级在零电位的位置。 （5）根据被测器件的性质和测试要求，调节图示仪上各部分的开关、旋钮到合适位置，然后插上被测器件，进行测试。 （6）仪器复位。测试结束后应使仪器复位，防止下一次使用时不慎造成被测晶体管损坏。 4、典型仪器介绍——XJ4810型晶体管特性图示仪 5）使用注意事项 （1）为保证测试的顺利进行，测试前应根据被测器件的参数规范及测试条件，预设一些关键开关和旋钮的位置。否则如调节不当，极易造成被测器件受损或测试结果差异很大。 4、典型仪器介绍——XJ4810型晶体管特性图示仪 5）使用注意事项 （2） “峰值电压范围”、“峰值电压%”、阶梯信号“电压-电流/级”及“功耗限制电阻”这几个开关、旋钮使用时应特别注意，如使用不当很容易损坏被测器件。 （3）测试大功率器件（因通常测试时不能满足其散热条件）及测试器件极限参数时，多采用“单簇”阶梯，以防止损坏器件及仪器本身。 知识梳理与总理 1. 半导体器件特性的测量一般采用图示法，测量时使用的仪器为晶体管特性图示仪。 2. 集总参数元件的测量主要采用电桥法和谐振法。依据电桥法制成的测量仪器总称为电桥，同时具有测量L、R、C功能的电桥称为万用电桥；依据谐振法制成的测量仪器称为Q表。 知识梳理与总理 3. 万用电桥由桥体、测量信号源、指零电路组成。桥体一般用四臂电桥，每个桥臂由阻抗组成，测量对象不同时桥体有相应的不同组成形式。 4. Q表由信号源、耦合电路、谐振电路及Q值电子电压表组成。测量元件采用直接测量法和替代法，而替代法又因被测阻抗大小不同而分别采用串联替代法和并联替代法。 5、典型仪器介绍—— QBG-3型Q表的使用 QBG-3型Q表是根据谐振法测量原理的一种典型仪器。它能在高频状态下测量电容量、电感量、损耗因数及品质因数等参数。Q表又称品质因数测量仪。 1）工作原理 QBG-3型Q表工作原理如图5-19所示。它由高频振荡器、LCR测量回路及输入、输出指示器三部分组成。 5、典型仪器介绍—— QBG-3型Q表的使用 5、典型仪器介绍—— QBG-3型Q表的使用 1）使用方法 QBG-3型Q表的面板如图5-20所示。连接被测元件的接线柱位于机箱的顶部。 5