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材料分析测试方法 主讲：吴亮发 绪 论 　 本课程是一门试验方法课，主要介绍X射线衍射分析 的基本原理、实验方法及应用，扫描电镜、透射电镜显微 分析的基本原理、方法及应用。 目 录 第一篇 材料X射线衍射分析 第1章 X射线的物理学基础 第2章 X射线衍射方向 第3章 X射线衍射强度 第4章 多晶体X射线衍射分析方法 第5章 物相分析及点阵参数精确测定 第6章 宏观残余应力的测定 第7章 多晶体结构的测定 第二篇 材料电子显微分析 第8章 扫描电子显微镜 第9章 透射电子显微镜 参考文献 主要参考文献 周玉.材料分析方法.机械工业出版社 黄新民.材料分析测试方法.国防工业出版社 张锐.现代材料分析方法.化学工业出版社 赵品.材料科学基础教程.哈尔滨工业大学出版社 第一章 X射线的物理学基础 引 言 第一节 X射线的性质 第二节 X射线的产生及X射线谱 第三节 X射线与物质的相互作用 引 言 1、 1895年德国物理学家伦琴发现了X射线。（这种射线：肉眼看不到，可使底片感光，有很强的穿透力，当时不了解这种辐射的性质） 2、1912年劳厄及合作者进一步推动了X射线的发展。 （硫酸铜单晶衍射实验） 3、劳厄衍射实验后，X射线学出现两个新的分支： 一是