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CH 7 信息纳米材料应用 CNT应用 单电子器件(SET) 纳米技术在电子信息领域的其他应用 量子磁盘与高密度磁存储 超微型纳米阵列激光器 微型传感器 增韧陶瓷 纳米结构高效电容器阵列 4. 纳米技术的其它应用 纳米隐身 纳米光催化 纳米生物医药 7.1 CNT应用 CNT场发射显示器 CNT电子器件 CNT氢能利用 CNT力学性能应用 CNT其他应用 7.1.1 CNT 场发射显示器 场发射参数: 开启电场(Eto):场发射电流密度达到10uA/cm2时的电场强度。 阈值(Ethr):场发射电流密度达到10mA/cm2时的电场强度。 场发射电流密度:材料的场发射电流与发射面积的比值。 场发射电流稳定性:场发射电流随时间的变化。 一、CNT场发射性能测试 CNT场发射性能测试时的电极结构: a.单根CNT b.多根CNT c.CNT薄膜 一、CNT场发射性能测试 阳极:阳极作用为参与形成电场并收集阴极发射的电子。测试材料的形状不同,测试目的不同,阳极结构和材料也不同。主要有:ITO阳极,金属板阳极和栅极阳极。右图为金属平板阳极,其特点是耐热性好、机械强度高,可用于大电流测试。 一、CNT场发射性能测试 栅极阳极: 在场发射材料的上方布置一铜质的筛网,筛网与场发射材料之间用厚度为20um的云母隔开,开孔直径为1mm。在筛网和场发射材料上加一定偏压,电子从阴极逸出并向阳极移动,其中一部分穿过筛孔,经加速电压作用打到收集电子的阳极上。 二、SWCNT场发射性能 测试装置: 右图为单壁CNT薄膜的场发射特性测试装置。单壁CNT呈无规则排列,堆积密度约108个/cm2. SWCNT薄膜场发射性能 SWCNT:直径1-2nm,长:几十-几百um,是高性能场发射材料。呈多束或无序薄膜。 起始发射阈值Eto:1.5-4.5V/um 临界发射阈值Ethr:3.7-7.8V/um,阈值性能指标优于金刚石薄膜和无定形C膜,但比多壁CNT略差。 发射稳定性:10h,由0.15mA/cm2-0.03mA/cm2,主要是单壁CNT在发射过程中结构损坏所致。 例:单壁CNT制作的4.5in2平板显示器,其起始发射阈值为2V/um,发射均匀性良好,但发射电流强度随发射时间延长而减小。 SWCNT场发射性能 在20-30nm的硅尖端催化生长单壁CNT,制作场发射器件,如右图所示。 场发射试验表明,SWCNT的发射阈值比硅低10-50倍,主要是因为CNT的直径(1-2nm)比硅尖小很多。 将这种发射极制成阵列,其发射电压为4V,可在手机等数码产品中应用。 SWCNT发射电流-时间关系 SWCNT场发射特性的稳定性: 在不同环境下(高真空、H2、 Ar、 O2和水蒸气)对SWCNT场发射稳定性测试,结果如右图所示。结果表明,SWCNT对环境的敏感程度远低于金属发射材料,如在水气中其发射强度在10h内没有衰减。但在O2气氛下的发射性能会下降。SWCNT的场发射稳定性与其很强的C-C键、几何形貌、结构完整性等因素有关。由于SWCNT的无序排列和纯度不高等,得到的场发射性能比MWCNT略差。 三、MWCNT 场发射性能 单根MWCNT: 当发射电流较小时,单根MWCNT的I-V特性和F-N特性大体成直线关系,表明此阶段的场发射基本符合F-N公式。当电流升高后,特性曲线的斜率一般会发生变化。当电流增加到一定程度,CNT的场发射I-V特性曲线进入饱和区,场发射电流随外加电场增加而增大的幅度减小,表现在I-V和F-N曲线的斜率比小电流区小。 MWCNT 场发射性能 薄膜MWCNT: 其场发射的I-V和F-N特性表现出与与单根MWCNT相同的发射特性。低电流是大体成线性,高电流区斜率会变化。 三、MWCNT 场发射性能 定向多壁CNT: Eto:0.6-1V/um Ethr:2-2.7V/um 场发射性能优,性能稳定;稳定性优于SWCNT。 MWCNT场发射性的稳定性 不同类型的CNT都表现出优异的场发射特性,而且在不同气氛下表现出很好的稳定性。通常,多壁CNT的稳定性要优于单壁CNT,主要是多壁CNT具有更好的结构和化学稳定性,尤其在低真空离子轰击严重的情况下。 离子轰击是场发射电流衰减的根本原因。高真空条件对CNT的稳定性很重要。 MWCNT 场发射 CNT 场发射显示器 有CRT的高亮度、高分辨率、高对比度等;又有LCD的低功耗等特点。 三星公司样品 CNT冷阴极管结构 在CNT阴极发射材料和阳极铝膜之间施加一定电压,发射出的电子使阳极上涂的荧光粉发光。不同的荧光粉材料,可得到不同颜色的阴极射线管。 7.1.2 CNT电
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