第7章点阵常数的精确测定.ppt

第七章 点阵常数的精确测定 晋 勇 材料科学与工程学院 四川大学 2012年11月 主要内容 §7-1 粉末衍射线条的指标化 §7-2 点阵常数测量中误差的来源 §7-3 点阵常数精确测定的方法 §7-4 点阵常数精确测定的应用 本章叙述多晶试样点阵常数精确测定的基本方法。着重介绍粉末衍射线条指数的标定、点阵常数测量误差的来源及消除误差的方法。 任何结晶物质，在一定的状态下都有一定的点阵常数。当外界条件（如温度、压力及其他外加物质）改变时，点阵常数亦将发生相应的变化。对某物质的点阵常数进行精确测定，将有助于研究其键合能力、密度、膨胀系数、缺陷情况等。 晶胞(crystal cell) 　　晶胞是晶体的基本结构单位。反映晶体结构三维周期性的晶格将晶体划分为一个个彼此互相并置而等同的平行六面体,即为晶胞。晶胞包括两个要素:一是晶胞的大小、型式;另一是晶胞的内容,前者主要指晶胞参数的大小,即平行六面体的边长a 、b、c和夹角α、β、γ的大小, 以及与晶胞对应的空间点阵型式,即属于简单格子P还是带心格子I、F或C等;后者主要指晶胞中有哪些原子、离子以及它们在晶胞中的分布位置等。 要计算点阵常数, 必须知道各衍射线条对应晶面的指数, 亦即要对衍射线条进行指标化。它不仅是晶体结构分析工作中必不可少的前提条件，而且也