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可靠性试验设备讲座 杭州可靠性仪器厂 DEV133 高温反偏老化系统 二极管反偏试验原理示意图 DEV133 高温反偏老化系统 DEV133高温反偏老化系统适用于二极管、三极管、场效应管和可控硅、MOS电路施加规定的反偏电压和温度应力进行的高温反偏试验。 ● 符合标准： MIL-STD-750、GJB128A ● 一板一区测量控制模式，16位单片机控制系统。 ● 整机分4区共16个老化板通道，每板可测试80个工位。 ● 高品质高温试验箱，另增超温报警装置，确保老化器件温度条件的安全性。 ● 老化前、后测试老化器件的PN结特性。 ● 可配置多种规格试验电源：100V/5A、300V/1A、600V/0.5A、1200V/0.5A等, 最高可配至2000V。 ● 试验中可检测器件的漏电流，测量范围：0.1?A?50mA（还可按区选择为0.1mA?200mA,以适应肖特基等较大漏电流的器件试验）。 ● 可设置器件漏电流上限，超限器件明显标示并可打印输出。 ● 可设置老化时间，器件老化结束后，系统自动报警。 ● 可单机独立操作或通过微机进行控制。 PWD-HJ大功率晶体管老化筛选台 大功率晶体管老化试验原理示意图 PWD-HJ大功率晶体管老化筛选台 PWD-HJ大功率晶体管老化筛选台可对F型、TO-220、TO-3P、G型封装的50～ 500W的晶体管进行功率筛选试验。 ● 符合标准：MIL-STD-750D、GJB128A ● 四个相互独立的老化区域,可同时进行50W/72位、150W/36位、300W/12位、500W/16位晶体管的老化筛选试验。 ● 采用共发射极试验线路。提供有效的防自激措施。 ● 试验中测量试验电压及各工位电流、各老化平台的温度，并可打印测量结果，超限工位和失效分布显示。 ● 整机包含四个热平台，采用水冷散热控温方式，通过流量计对热平台进行温度调节。热平台具有温度测量及超温保护功能。 ● 系统配有循环水致冷单元，具有水压欠压报警，超压、水温超温保护功能，保护时自动关闭老化电源。 ● 可单机独立操作或通过微机控制。 DEV-SHH 高温高湿反偏老化系统 DEV-SHH高温高湿反偏老化系统适用于二极管、三极管、场效应管和可控硅、MOS器件等进行高温高湿反偏试验（H3TRB）。 ● 系统配置8个老化板通道，每个老化板通道可装载40个器件。 ● 配置2-4套试验电源，可同时进行2-4种不同器件的试验。 ● 高温高湿试验箱 温度范围：-20℃?150℃；湿度范围：25%?98%RH。 ● 可在老化前和老化后测试老化器件的PN结特性。 ● 整机共4台300V/1A老化电源。 ● 检测老化器件的漏电流，测量范围：0.01?A?20mA；设置器件漏电流上限，可显示超限器件并可打印输出。 ● 可检测每块老化板的老化电压，检测范围：0?1200V。 ● 设置老化时间，器件老化结束后，系统自动报警。 ● 可通过计算机进行控制、测试和存储，测试数据可文本显示和曲线显示。 ELEC-HJD 整流二极管恒流老化系统 ELEC-HJD整流二极管恒流老化系统适用于对各种封装的整流型二极管器件进行恒流模式的功率老化。（方法B的2） ● 符合标准： MIL-STD-750D、GJB128A ● 整机分4个老化区，共16个老化板通道，每个老化板通道可装载60个二极管器件。 ● 系统提供16套单片机控制的驱动板，对应16块老化板通道，另有1套工控单片机系统对驱动检测板进行控制管理。 ● 试验信息液晶屏显示，菜单显示及快捷键操作，方便简捷。 ● 整机提供4台老化电源（25V/40A），也可选配。 ● 为每块老化板通道提供4路程控恒流电子负载（最大电流为6A），每路电子负载可连接16个整流二极管器件（串接方式）。 ● 控制、检测每个整流二极管回路的工作电流、检测每个整流二极管回路的工作电压。每个整流二极管回路电流电压超过设置值则关闭相应的负载回路。 ● 单机独立操作或微机控制。 ● 微型打印机，供单机独立操作时输出检测数据。 ELEC-JC 稳压二极管恒流老化系统 ELEC-JC稳压二极管恒流老化系统适用于各种封装的稳压型二极管器件进行恒流模式功率老化。 ● 符合标准：MIL-STD-750D、GJB128A ● 整机共4个区， 16块老化板通道，16块单片机控制的驱动板，另有1套工控单片机系统对驱动检测板进行控制管理 ● 每块驱动检测板具有独立的24路恒流型电子负载（最大程控电流300mA），整机共384路电子负载。采用并联方式。 ● 整机配置4台老化电源（60V/12A）（通过老化电源扩展可适应更多品种器件的试验）。 ● 试验信息由液晶屏显示，菜单及快捷键操作。 ● 控制、检测每个稳