低温环境下犕犈犕犛微构件的动态特性及测试系统.pdfVIP

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第 卷 第 期 光学 精密工程 18 10   Vol.18 No.10              O ticsandPrecisionEnineerin          年 月   p g g 2010 10 Oct.2010       文章编号 ( ) 1004924X201010217807   低温环境下犕犈犕犛微构件的动态特性及测试系统 , , 2 12 2 12 佘东生 ,王晓东 ,张习文 ,王立鼎 ( 大连理工大学 精密与特种加工教育部重点实验室,辽宁 大连 ; 1. 116024 2.辽宁省微纳米技术及系统重点实验室,辽宁 大连 116024) 摘要:研究了微机电系统( )微构件的谐振频率等动态特性在低温环境下的变化规律,从理论上分析了改变环境温 MEMS 度对微悬臂梁谐振频率的影响,并对低温环境下微构件的动态特性测试技术进行了研究。研制了低温环境下 MEMS动 态特性测试系统,采用半导体冷阱实现低温环境,利用压电陶瓷作为底座激励装置的驱动源,通过底座的冲击激励,使微 悬臂梁处于自由衰减振动状态,使用激光多普勒测振仪对微悬臂梁的振动响应进行检测,从而获得微悬臂梁的谐振频 率。利用研制的测试系统,在-50℃~室温的环境下对单晶硅微悬臂的谐振频率进行了测试,结果表明,随着温度的降 低,微悬臂梁的谐振频率略有增大,其谐振频率的温度变化率约为 / ,与理论分析的结果基本一致。该测试 -0.263HzK 装置能够有效地完成在-50℃~室温环境下微构件的动态特性测试。 关 键 词:微机电系统;动态特性;低温;微悬臂梁;冲击激励     中图分类号: ; 文献标识码: : / TH825TH703 A 犱狅犻10.3788OPE2178       犇狀犪犿犻犮狋犲狊狋犻狀 狅犳犕犈犕犛犿犻犮狉狅狊狋狉狌犮狋狌狉犲犪狀犱犻狋狊犿犲犪狊狌狉犲犿犲狀狋 狔 犵 狊狊狋犲犿犪狋犾狅狑狋犲犿 犲狉犪狋狌狉犲狊 狔 狆 , , 2 12 2 12 , , , SHEDonshen WANGXiao

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