X射线衍射分析技术92046.pptVIP

X射线衍射分析技术; 1895年德国科学家伦琴(W. K. Rontgen)在进行阴极射线的研究时发现了“一种新的射线”, 即X 射线。伦琴的这一划时代发现使他于1901年荣获全世界首次颁发的诺贝尔物理学奖。1912年劳厄(M. V. Laue )发现晶体中的X射线衍射现象, 1913年布拉格父子(W. H.Bragg, W. L. Bragg) 借助X射线成功地测出金刚石的晶体结构, 并推导出“ 布拉格方程”, 也都获得了诺贝尔物理学奖。X 射线发展至今, 已形成了3种完整的应用技术: 一是X 射线照相术; 二是X 射线光谱技术; 三是X射线衍射技术。其中, X 射线衍射技术是利用X射线在晶体、非晶体中衍射与散射效应, 进行物相的定性分析和定量分析、结构类型和不完整性分析的技术[1] 。X 射线技术不但推动了物理学的发展, 而且也使化学、生物学、材料科学、医学以及农林科学等许多科学领域得到了新的重大发展, 并得到了广泛的应用。;X射线衍射原理; 劳厄以直线点阵为出发点, 把空间点阵看作互不平行又相互贯穿的三维直线点阵, 从而研究得到了立体点阵结构产生衍射的条件, 即劳厄方程: a(cosα- cosα0 ) = hλ h= 0, ±1, ± 2, … b(cosβ- cosβ0) = kλ k= 0, ±1, ±2, … c(cosγ- cosγ0 ) = lλ l= 0, ±1, ± 2, … 劳厄方程决定了空间点阵的衍射方向, 方程式中的h、k、l为衍射指标。 对于上述现象, 布拉格父子以平面点阵为出发点, 提出了另一种研究X射线衍射的方法, 他们将空间点阵理解为互相平行且晶面间距等于d 的一族晶面点阵, 如图2所示。波长为λ的X射线以掠射角θ入射到晶面时, 表面层原子散射的反射光产生衍射的条件: 2d sinθ= kλ k= 1, 2, 3,… 该式称为布拉格方程, k为衍射级数。;图2 布拉格方程的推导; X 射线衍射线的方向与晶胞大小和形状有关, 劳厄方程和布拉格方程都是决定晶体衍射方向的基本方程。劳厄方程和布拉格方程有着内在的联系, 它们均反映衍射方向、入射线波长、点阵参数、入射角关系, 实质上是相同的。由于劳厄方程需同时考虑3个方程, 应用不便, 布拉格方程要比劳厄方程更直观而实用。所以布拉格方程的导出, 奠定了X射线晶体学广泛应用的基础。;X 射线衍射方法; 2. 周转晶体法 周转晶体法以单色X 射线照射转动的单晶样品, 用以样品转动轴为轴线的圆柱形底片记录产生的衍射线, 在底片上形成分立的衍射斑。这样的衍射花样容易准确测定晶体的衍射方向和衍射强度, 适用于未知晶体的结构分析。周转晶体法很容易分析对称性较低的晶体( 如正交、单斜、三斜等晶系晶体) 结构[ 3], 但应用较少。 二 多晶衍射法 多晶X 射线衍射方法包括照相法与衍射仪法。 1. 照相法 照相法[ 4] 以光源发出的特征X 射线照射多晶样品, 并用底片记录衍射花样。根据样品与底片的相对位置, 照相法可以分为德拜法、聚焦法和针孔法, 其中德拜法应用最为普遍。德拜法以一束准直的特征X 射线照射到小块粉末样品上, 用卷成圆柱状并与样品同轴安装的窄条底片记录衍射信息, 获得的衍射花样是一些衍射弧。; 此方法的优点为: ( 1) 所用试样量少( 0.1 毫克即可) ; ( 2) 包含了试样产生的全部反射线; ( 3) 装置和技术比较简单。 聚焦法的底片与样品处于同一圆周上, 以具有较大发散度的单色X 射线照射样品上较大区域。由于同一圆周上的同弧圆周角相等, 使得多晶样品中的等同晶面的衍射线在底片上聚焦成一点或一条线。聚焦法曝光时间短, 分辨率是德拜法的两倍, 但在小θ范围衍射线条较少且宽, 不适于分析未知样品。 针孔法用三个针孔准直的单色X 射线为光源, 照射到平板样品上。根据底片不同的位置针孔法又分为穿透针孔法和背射针孔法。针孔法得到的衍射花样是衍射线的整个圆环, 适于研究晶粒大小、晶体完整性、宏观残余应力及多晶试样中的择优取向等。但这种方法只能记录很少的几个衍射环, 不适于其它应用。; 2. 衍射仪法[ 2] X 射线衍射仪以布拉格实验装置为原型, 融合了机械与电子技术等多方面的成果。衍射仪由X 射线发生器、X 射线测角仪、辐射探测器和辐射探测电路4 个基本部分组成, 是以特征X 射线照射多晶体样品, 并以辐射探测器记