聚酰亚胺薄膜表面电荷的开尔文力显微镜研究 Research on Surface Charges of Polyimide Films by the Kelvin Force Microscope.pdfVIP

第 34 卷 第 12 期 中 国 电 机 工 程 学 报 Vol.34 No.12 Apr.25, 2014 2014 年 4 月 25 日 Proceedings of the CSEE ©2014 Chin.Soc.for Elec.Eng. 1957 DOI ：10.13334/j.0258-8013.pcsee.2014.12.016 文章编号：0258-8013 (2014) 12-1957-08 中图分类号：TM 211 聚酰亚胺薄膜表面电荷的开尔文力显微镜研究 孙志，王暄，韩柏，雷清泉 (黑龙江省电介质工程国家重点实验室培育基地(哈尔滨理工大学), 黑龙江省 哈尔滨市 150080) Research on Surface Charges of Polyimide Films by the Kelvin Force Microscope