X荧光分析32390.docVIP

X荧光分析 引言 Ｘ荧光分析是一种快速、无损、多元素同时测定的现代技术已广泛应用于材料科学、生物医学、地质研究、环境监测、天体物理、文物考古、刑事侦察、工业生产等诸多领域。例如：用Ｘ荧光分析技术研究：１．钢中碳、锰含量与低碳钢的脆性转变温度的关系；２．千分之几的锰对铁镍合金薄膜磁电阻的严重影响；３．检测出齿轮箱润滑油中各金属元素的含量，在不拆卸机件的情况下，分析飞行器部件磨损状况；４．分析大气中浮游尘、气溶胶、水源污染情况、食品中有害物；５．分析血样、头发、牙齿、淋巴细胞、活性酶中微量元素与人体健康、疾病的相关性；６．无损分析文物组分；７．分析陨石、飞船带回的月岩等成分；８．测定地下水样中砷浓度，根据金矿与砷常同时存在的特征，找出金矿；９．用稀硝酸淋洗射击可疑者的手，测定浓缩液中硫、钡、铁、铅含量，作为侦察的依据，可信度达90%-98%；１０．监控水泥中钙、铁、铝等含量，达到控制水泥生产品质；１１．分析土壤中微量元素，以确定作物（特别是草药）种植的适宜性；等等。 实验目的 了解能量色散Ｘ荧光分析的原理、仪器构成和基本测量、分析方法；验证莫塞莱定律 （Ｍｏｓｅｌｅｙ’ｓ　Ｌａｗ）；研究物质对Ｘ射线的吸收规律。 实验原理 以一定能量的光子、电子、原子、α粒子或其他离子轰击样品，将物质原子中的内壳层电子击出，产生电子空位，原子处于激发态。外壳层电子向内壳层跃迁，填补内壳层电子空位，同时释放出跃迁能量，原子回到基态。跃迁能量以特征Ｘ射线形式释放，或能量转移给另一个轨道电子，使该电子发射出来，即俄歇电子发射。测出特征Ｘ射线能谱，即可确定所测样品中元素种类和含量。 当原子中K层电子被击出后，L层或M层的电子填补K层电子空位，同时以一定几率发射特征Ｘ射线。L→K产生的Ｘ射线叫Kα系，L层有三个子壳层，允许跃迁使Kα系有两条谱线Kα1和Kα2。M→K产生的Ｘ射线叫Kβ系，M层有五个子壳层，允许跃迁使Kβ有Kβ1，Kβ3，Kβ5三条谱线。当原子中L层电子被击出后，M→L跃迁产生的Ｘ射线叫L系。 特征Ｘ射线的能量为两壳层电子结合能之差，即 ＥKα＝ＢK－ＢL，ＥKβ＝ＢK－ＢM，ＥL＝ＢL－ＢM 所有元素的K，L系特征Ｘ射线能量在几千电子伏到几十千电子伏之间。 Ｘ荧光分析中激发Ｘ射线的方式一般有三种：（1）用质子、α粒子等离子激发；（2）用电子激发；（3）用Ｘ射线或低能γ射线激发。 用质子激发特征Ｘ射线的分析技术（常记为ＰＩＸＥ）是几种激发方式中分析灵敏度最高的，相对灵敏度达10－6～10－7ｇ／ｇ，绝对灵敏度可达10－9～10－16ｇ，而且可以将质子束聚焦、扫描，对样品作微区分析。 用电子束激发（常记为ＥＩＸ），目前主要用在扫描电镜中。与ＰＩＸＥ相比，电子激发引起的轫致辐射本底比质子激发大，影响分析灵敏度，一般比ＰＩＸＥ低2-3个数量级。另外这种激发方式不能在空气中进行，只适用于薄样品。 用Ｘ射线或低能γ射线激发（记为ＸＩＸ），常用Ｘ光管，放射性同位素作为激发源。这类激发用射线不易聚焦；分析灵敏度亦稍低，相对灵敏度一般为10－5～10－6ｇ／ｇ，绝对灵敏度约为10－7～10－8ｇ，低于ＰＩＸＥ的灵敏度。 最近，用同步加速器环形加速的轨道电子的强电磁辐射作激发源，波长范围从软Ｘ线至电磁波，连续可调，强度很大，有些状态下，准直性极好，可能很有发展前途。 轻便型仪器常用放射性同位素作激发源。 可选用的有55Ｆｅ、238Ｐｕ、109Ｃｄ、241ＡM、57Ｃｏ、153Ｇｄ等。其中 238Ｐｕα衰变后发射的234Ｕ的LＸ射线，其能量为11.6～21.7kｅＶ。238Ｐｕ的半衰期为87.7年。用得比较多。 ＸＩＸ技术中，入射光子除与样品中原子发生光电作用产生内壳层空位外，还可以发生相干散射和非相干散射（康普顿散射），这些散射光子进入探测器，形成ＸＩＸ分析中的散射本底。另外，样品中激发出的光电子又会产生轫致辐射，但这产生的本底比散射光子本底小得多，且能量也较低，一般在3kｅＶ以下。所以ＸＩＸ能谱特征是：特征Ｘ射线峰叠加在散射光子峰之间的平坦的连续本底谱上。如图1.7-1能谱示意图所示。ａ峰是相干散射光子峰，ｂ是康普顿散射光子峰，ｃ是特征Ｘ射线峰，ｄ是散射光子在探测器中的康普顿边缘。 ? 图1.7-1光子激发的特征Ｘ射线能谱示意图（假定样品基体由轻元素组成） 测量特征Ｘ射线常用Ｓｉ（Lｉ）探测器，它的能量分辨率高，适用于多元素同时分析，也可选用Ｇｅ（Lｉ）或高纯Ｇｅ探测器，但均价格昂贵。在Ｘ荧光分析中，对于轻元素（一般指Ｚ＜45的元素)通常测其KＸ射线，对于重元素（Ｚ＞45的元素），因其KＸ射线能量较高且比LＸ射线强度弱，常测其LＸ射线，这样测量的特征Ｘ射线能量一般在20keV以下。正比计数管在此能量范围，探测效率较高，其能量分辨率虽比Ｓｉ（Lｉ）探测器差，但远