5.4 光热辐射测量技术.pptVIP

第5章 光热辐射测量技术 脉冲光热辐射测量法 包括对试件加热、用红外热成像设备记录表面温度变化两个过程。 对试件加热后，试件温度发生变化，试件表面下的缺陷使温度变化出现异常。缺陷越深，温差出现越迟，温差也越小。 5.4 其他光热辐射测量技术 调制辐射测量技术 工作原理：基于试件中热波的产生。 输入参数：幅值A,调制频率? 输出参数：幅值、相位?，调制频率? 利用一个调制周期中试件表面等时间间距温度的四个采样值进行估算。 输出参数确定 输出参数确定 实测信号SM：物体辐射ST；环境反射SR SM =?i ST+(1-?) SR ?为发射率，i照度 环境反射SR 测温中不变，M与外部反射无关 热图像的相位与外部的反射、非均匀照明及辐射率无关。 电阻的调制检测结果 热扩散波长及深度 热扩散波长：?=(2k/??c)2 此时热波的幅值衰减到原长的1/e. K热导率；?密度；c比热容；?调制频率 幅值热图像—深度范围等于热扩散波长； 相位热图像—深度范围等于热扩散波长两倍； 调制光热辐射测量装置 注意 空间分辨率随探测深度增加而降低； 测量至少需要一个调制周期； 点加热、面激励源 对激励强度无要求 卤素灯、周期电流信号内部激励、超声波源内部力学激励、 调制辐射测量的应用 定位裂纹位置； 不同涂层厚度； 材料特性（密度、厚度、孔隙度、内部结构等） 5.4.2阶跃光热辐射测量技术 阶跃光热辐射测量/时变红外辐射测量： 用较低能量的辐射对试件持续加热； 激光作点热源或线热源，声光调制器作门控制信号。 观测加热过程或加热后温度随时间的变化； 测量某一时刻扫描线的温度分布；测量扫描线温度随时间变化；测量某时刻整个平面的温度分布情况。 装置：热源不同于脉冲辐射测量 热传递时间 热传递时间tT：观测区域中观测点的温度偏离正常温度所需要的时间，与缺陷深度有关。 例：涂层厚度对试件温度变化的影响。 热传递时间 说明： 开始时所有曲线呈线性关系； 随时间增加曲线开始低于半无限大情况—基底热导率大于涂层；绝热基底正好相反。 tT=0.36L2/? L涂层厚度； ?吸收率 说明 阶跃光热辐射测量不需知道无缺陷区域的性质，仅一次实验即可获得缺陷深度、热性质信息。 阶跃光热辐射测量适合于变化较慢的检测，而脉冲辐射测量适合变化较快的检测。 5.4.3 振动（超声）激励辐射测量 原理：在机械振动的作用下，在裂纹或分层等缺陷处摩擦生热，机械能直接转换为热能，在某一特定频率下振动与结构其他部分无关，通过改变振动频率，热梯度出现或消失 优点：可在线检测大结构区域。 超声红外热像技术装置图 超声发生器：电源、换能器（压电片、聚能杆） 说明 超声激励辐射测量可检测更深、更小的缺陷：腐蚀、垂直裂纹、分层检测。 声源和试件需良好机械结合。 5.4.5 光热偏转测量技术 当一束激光入射于样品时，样品吸收激光，导致温度梯度分布，在加热区域伴随折射率变化。若有另一光束通过该样品区域，其传播特性会受到微扰，产生光束的发散或偏转。前者称激光热透镜效应，后者称激光光热偏转效应，总称激光诱导光热效应。 样品热弹性变形； 样品和近表面空气中的热透镜效应。变形面上反射光束、折射率变化区域的透射光发生偏折。 光热偏转技术的实施方案 横向法光热偏转方案 透射式光热偏转方案 反射式光热位移方案 横向光热偏转 原理：用一束泵浦光加热材料表面，材料吸收光能产生微弱升温效应，材料表面的气体有一定的温度梯度分布，产生折射率的梯度分布；另一探测光束通过折射率梯度分布区域时，光线产生偏折，检测偏折量检测材料表面温度变化，而温度变化与材料次表面的缺陷相关，因而通过对材料样品表面扫描检测可得到次表面缺陷图像。 横向光热偏转 光热位移偏转：样品受强度调制的激光束照射时，光吸收的存在将在样品内部产生热波，从而使其表面发生周期形变，当另一激光束入射形变区时，反射光线发生相应偏转。 透射式光热偏转：综合利用热波在样品内部形成的光学折射率变化和热波引起的样品表面的热弹性变形效应。 5.4.5 热层析摄影术 对试件沿深度方向分层成像，即确定不同层上的热性质分布。 基于热注入后被测部件表面的温度变化过程。 是一种通过时间获取热信息的技术，检测结果直接与时间有关。 第6章 红外检测与诊断技术的应用 概述 红外技术的应用 19世纪，天文星体的红外辐射、化工业用红外光谱进行物质分析 20世纪，军事应用 1991年海湾战争，夜视装置的普遍影响。红外制导导弹、夜视仪。 民用：红外加热、干燥，红外测温、红外理疗、红外检测、红外报警 * 温度：红外辐射能量的大小； 幅值变化：热扩散； 相位：热传播时间 * * *