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关于粒度分布测量仪器的
简 单 介 绍
辽宁仪表研究所有限责任公司
辽宁仪表研究所有限责任公司
2006年版
一、常用粒度分布测量方法及特点
粉末粒度分布的测量方法经过百余年的发展,据统计至少已经发展了上百种,但随着科技的发展,有些方法被逐步淘汰(如沉降法等),有些方法得到了改进和发展(如激光散射法、动态光散射等),并在生产、科研中得到了广泛的应用,下表给出目前常用的粒度测量方法:
测量方法 大致测量范围 筛分法 标准筛 40 ~1000μm 特殊筛 5 ~1000μm 显微图象分析 光学显微镜 1 ~1000μm 电子显微镜 0.001 ~10μm 库尔特计数器 0.4 ~200μm BET法 0.003 ~3μm 透过法 0.001 ~100μm 重力沉降 移液管法 1 ~100μm 比重计法 1~100μm 浊度法 0.1 ~100μm 天平法 0.1 ~150μm 离心沉降 0.5 ~30μm 离心沉降+重力沉降 0.5 ~150μm 动态光散射法 0.003 ~3μm 激光散射法 0.02 ~2500μm 表一
现在普遍使用的测量方法有筛分法、显微图像法、光透沉降法、激光散射(衍射)法等几种,下面简单介绍几种常用的粒度测量方法。
1.1筛分法
此方法是一种具有很长历史的粒度测定方法,筛分法粒度测量是利用一组筛孔大小不同的标准筛将粉末进行筛分,然后对每个筛上样品分别进行称重,进而得到以质量为量纲的粒度分布数据,并可由分布结果计算出如Dv50等其它参数。筛分法主要特点是测量成本低廉,操作简单,但存在着如重复性差,测量时间较长,不能对5μm以下的颗粒进行测量等缺点。
1.2 显微图像分析法
利用光学或电子显微镜及计算机图像识别技术对颗粒粒度及粒度分布,颗粒形貌进行测量、分析的方法。这种方法不仅能够测量粒度分布而且能够直接观察到颗粒的形状,是目前唯一的一种可目视的直观测试方法,这种特点也是其它粒度测量仪器所不具备的。这种方法的优点是直观、简便、费用低,缺点是由于取样量很少,为使测量结果具有良好的代表性,必须增加待测颗粒的个数(一般认为测量颗粒的个数应在1000个以上),这就相应增加了测量时间,及测试人员的工作强度,但由于能够对颗粒形貌(如长径比等)进行测量,目前也有一定的应用。
光透沉降法
2.3.1 简单原理:
沉降法粒度测试的理论基础是斯托克司定律和比尔定律。前者给出颗粒沉降速度与粒径的关系,后者阐明光强透过率与粒径重量的关系。简单的描述:在沉降液中,有若干相同比重的颗粒,如果同一时刻,从同一位置开始下降,则不同直径的颗粒到达测量区的时间是不同的,根据颗粒到达测量区的时间,及光强的强弱,就可以推算出颗粒的粒径,及相应粒径的颗粒在颗粒群中占有的比例。
斯托克司定律:
......................式(2)
其中:
V 粒径为D的颗粒的运动速度(沉降速度) g 常数;
Df 沉降介质比重; Ds 样品比重;
Vis 沉降介质黏度
比尔定律:
..........式(3)
Io 入射光强; Ii 出射光强;
Q 常数;
N(D) 为光束中粒径在D~D+d(D)之间的颗粒数。
2.3.2 特点
采用此种原理的测量仪器有比较长的使用历史,但随着科技的发展和测量手段的进步,此方法日益暴露出不能适应现代粒度测量的缺陷:
测量过程需要的参数较多,如样品的真比重,沉降介质的黏度等,这些参数中,有的可以精确给定,有的虽测前能给定,但在测量过程中却连续变化,如沉降介质的黏度,对于离心沉降,随着离心电机的高速旋转,沉降介质的温度由于摩擦作用而升高(每变化1℃,介质粘度变化1~2%),同时沉降介质的黏度也随之发生变化,但目前的温度测量技术无法实时检测到这种温度的改变,同时也就无法跟踪沉降介质黏度的改变,因此导致了较大的附加误差。
测量时间较长,尤其要测量下限为零点几个微米时,测量时间成倍增加,无法适应现代化工厂连续、快速粒度检测需要。
如我所生产的GXL-202离心沉降粒度分布测量仪,对于一种假设样品,如此样品比重为2.4,环境温度为22℃,需要测量的粒度下限分别为0.5微米和0.1微米,其测量时间分别为:
所选择的测量方式 测量粒度下限 0.5微米 测量粒度下限 0.1微米 纯重力沉降 55小时59分钟59秒 1400小时 重力沉降+750转离心沉降 1小时17分钟58秒 28小时1分钟2秒 重力沉降+1500转离心沉降 28分钟2秒 7小时8分钟48秒 750转离心沉降 1小时6分钟47秒
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