确定相薄片偏振参量的椭偏仪法研究.pdfVIP

第 34卷 第6期 西 南 师 范 大 学 学 报 (自然科 学版) 2009年 12,El Vo1．34 No．6 Journal0fSouthwestChinaNormalUniversity(NaturalScienceEdition) Dec． 2009 文章编号 ：1000—5471《2009)06—0208—04 确定相薄片偏振参量的椭偏仪法研究 赵 红 重庆文理学院 物理与信息工程系，重庆 永川 402160 摘要 ：对彼比科夫(BH~HKOB)提出的测量相薄片的相移和透射光相对振辐系数的椭偏仪法作 了改进 ，论述了该改 进方法依据的理论 ，采用的步骤 ；并用此方法测量 了云母片的相移和透射光相对振辐系数等偏振参量．结果表 明：该方法不需要复杂的专门设备 ，方法简单 ，精确度高，为非破坏性测量． 关 键 词 ：椭偏仪法 ；偏振参量 ；相薄片；补偿片；云母片 中图分类号 ：0436 文献标识码 ：A 在近代科学技术中，各类薄膜和薄片的研究和应用是一个重要 的研究课题．更加精确的测量薄膜和薄 片(以下均称为相薄片)的光学参数已变得更加迫切和重要．在实际工作中，可利用传统方法，如用布儒斯 特角法测相薄片的折射率 j，用干涉法测相薄片的厚度等 ，但这些方法灵敏性和精确性差．采用椭偏仪 法不仅灵敏性和精确性高，而且是非破坏性测量．目前已有一些文献介绍 了椭偏仪法测量相薄片的厚度和 折射率 ．在科研上 ，不仅要知道相薄片的厚度和折射率，更重要的是要知道相薄片的相移 r和透射光的 相对振辐系数F．提出一种简单而较精确的测量相薄片偏振参量的方法，就是一个 亟待解决 的重要问题． 2006年彼比科夫在文献[4]中，提出了用椭偏法测量晶体薄片偏振参量 r和F的方法．但这种方法测量次 数多，工作量大，精确度不很高．为此，我们依据矩阵变换和电磁学理论，对文献E43提出的方法作了改 进．本文将论述这种改进方法的原理和用此方法测量相薄片参量的步骤 ，并用此方法确定了具有广泛用途 的云母薄片的相移 r和透射光的相对振幅系数F等参量． r 1 椭偏仪法测量相薄片参量的原理 设偏振片的慢轴与 OX轴重合，而快轴与 轴重合，光波沿 OZ轴传播 (图1)．极化矢量E与OX轴的夹角为a，那么，线偏振 光极化矢量 (麦克斯韦矢量)的矩阵为 fCOSOt] E 一 I． 1 (1) Islna l 当线偏振光通过相薄片后 ，线偏振光极化矢量变为 Ez．相 薄片的作用相当于对线偏振光极化矢量施 以了1个变换，它使线 偏振光极化矢量E 产生相位移动r和振幅变化 (由E。变为FE。， F称为透射光相对振幅系数)．文献[4]给出了具有相移I1和透射 光相对振幅系数 F的相薄片的变换矩阵(琼斯矩阵)，为 图1 线偏振光透过相薄片示意图 收稿 日期 ：2008—12—06 作者简介：赵 红 (1972一)，女，重庆永川人，讲师 ，主要 从事物理学的教学和科研工作 第6期 赵 红：确定相薄片偏振参量的椭偏仪法研究 209 [ ] ㈦ 光通过相薄片后，一般会变为椭圆偏振光 ，其麦克斯韦矢量为 Ez—TE一( ) ㈤ 利用关系式 tan~一 (其中e为椭偏率 ，e为椭偏角)，将得到透射光椭偏角 ￡的表示式 sin2e===再2EsinFtana (4)