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测试性设计及国外相关标准综述
张宝珍
1、测试性设计概述
测试性设计是指在系统、分系统、设备、组件和部件的设计过程中,通过综
合考虑并实现测试的可控性与可观测性、初始化与可达性、BIT 以及和外部测试
设备兼容性等,达到测试性要求的设计过程。
测试性设计是一个复杂的过程,有很多因素需要考虑。如,测试接口要标准、
通用、简单,测试点的设置应支持产品各个层次测试的需要;要考虑工效学、自
动化、障碍物、可达性、可视性;由电路板内诊断和传感器构成的自测试应象产
品自身一样轻便;能对模块化部件一次完成多个功能的测试;能对多个独立的功
能部件进行并行测试;尽可能通过系统级测试实现故障检测来缩短测试时间;测
试应直观、非破坏性,并尽量不使用专用工具,等等。为构造一个产品的测试性,
设计人员一般需要以下五个方面的知识。①了解部件和产品信息及其表示方式;
②能预测部件在一定条件下的行为;③能观测软件程序的运行、输入参数和输出,
测试和测量的硬件节点;④通过内建功能可跟踪部件性能和行为的状态;⑤能控
制程序的输入、输出、运行和行为。
另外,测试性设计的目的是提高系统的故障诊断和隔离能力,忽视故障诊断
的要求,盲目地追求可测性,必然导致设计费用和系统资源的浪费。反之,如果
只从故障诊断考虑问题,而忽视实际的可测性,必然会降低可操作性。故障诊断
方法的改进可以降低可测性的要求,同时可测性的提高可以增强故障诊断能力和
系统的可靠性。因此需要可测性设计同故障诊断技术相结合来优化系统可测性设
计。
总之,测试性设计是与产品功能设计并行的复杂工作,企业测试部门的效益
不能仅从设计阶段的投入衡量,而要从他在产品整个寿命周期获得的利益考虑。
按照产品的结构层次,测试性设计可以分为系统级测试性设计、电路模块的
测试性设计、电路芯片的测试性设计和软件的测试设计等。
系统级测试性设计的基本原则是:(1)通过将系统划分成各个模块来解决
系统测试的复杂性;(2)在系统中插入测试功能,先测试单个模块,再测试模
块间的相互作用,进而完成整个系统的测试。
电路模块的测试性设计技术技术主要有:内建自测试设计技术、扫描通路设
计技术和测试总线技术等。另外,传统的测试方法建立在对电路的功能测试基础
上。但随着电路复杂性增加,对功能测试矢量的收集是一个巨大的工作量。而实
际上,电路都是有一些独立的或近似独立的功能块所组成。因此,对这些功能块
分别进行测试则更有效,一种称为结构化测试的电路测试设计方法应运而生。由
于这些功能块不一定具有相应的输入/输出引脚,因此需要插入一些新的结构。
系统级芯片(SoC)往往包含着一个或多个模拟的功能块。随着系统级芯片
越来越多的使用,模拟电路的测试性设计技术也逐渐引起测试界的重视。而目前
大多数电路的测试性设计都集中在数字电路,在数字逻辑电路中广泛应用的测试
性设计技术不能简单移植于模拟电路。目前对模拟电路的测试性设计主要采用以
下几种方式:第一:功能结构重组。此方法是利用电路的功能结构经过重组,利
用输出信号判别电路是否发生错误;第二插入测试点;第三进行数模/模数转换。
即在芯片设计中加入模数转换器和数模转换器,把待测电路的模拟输出信号变成
数字信号,把待测电路的数字输入信号变成模拟信号,从而实现激励和响应的传
播。
目前复杂的系统基本上都是由软件和硬件组成,而且系统对软件的依赖越来
越大,很多过去由硬件实现的功能逐渐由软件所代替。系统设计中不考虑软件的
测试性是不完善的。但是,软件的测试更为复杂。主要问题是缺乏对软件响应的
了解,缺乏测试模型、合适的测试准则和测试方法。通常对软件的测试采用统计
方法或者启发式的检查,或者用其它的方式计算同一个变量,等等。这些方法并
不能保证软件没有问题。目前能够做的就是通过对大量的功能空间的分析,来提
供定性的基于统计的质量保证。
2.测试性分析技术
2.1测试性分析概述
测试性分析是产品设计分析工作中的一个重要环节,它与诊断方案的制订及
实施有关。测试性分析的目的是验证所建议的方法是否满足设计要求。测试性分
析内容主要包括:BIT故障检测与隔离能力的预计、系统测试性预计、固有测试
性评价。前两项主要采用测试性预计方法,后一项可采用加权计算方法。
测试性预计是根据测试性设计资料,估计测试性参数可能达到的量值,并比
较是否满足指标要求。测试性预计一般是按系统的组成,按由下往上、由局部到
总体的顺序来进行。测试性预计
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