X射线光电子能谱_XPS_在变性淀粉表面基团分布研究中的应用.pdfVIP

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2017-09-02 发布于重庆
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X射线光电子能谱_XPS_在变性淀粉表面基团分布研究中的应用.pdf

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28 20 07, No. 6 CEREAL FEED INDUSTRY X (X S) 尹诗衡, 黄强 ( , 510640) : 详述了X 射线光电子能谱(X S)工作的基本原理, 测定变性淀粉基团在淀粉颗表面分布的样品预处理方法, 以及在酯化醚化接枝共聚改性淀粉基团分布分析中的应用, 并对 X S在变性淀粉基团分布分析前景进行了展望 : 变性淀粉; X 射线光电子能谱(X S); 取代基团 : TS236 : A : 1003- 6202( 2007) 06- 0028- 03 Application of XRay Photoelectron Spectroscopy in Study on Surface Group Distribution ofM odified Starch Granules ABSTRACT: The basic work ing principle of Xray photoelectron spectroscopy (X S), the m ethods for pretreating samp les of modi fied starch group d istributed on starch granule su rface and application in d istribution analysis of graftcopolymerized starch group, as w ell as prospect of X S in d istribution analysis ofm odified starch groupw ere detailed. KE WORDS: m od ified starch; Xray photoelectron spectroscopy (X S); substituent group 1 X S , X X ( X S) ESCA ( , X S ), X , X , , , Kratos Ax is U ltra DLD , DLD , , X , , 6. 67 10- 8 a AuAg , , , [ 1] X S 2 ~ 5 nm X 1 m, , 2 , 1 X S, , ( 20 ) , X S , , , , 3, , , () X S, , X S , , ,