Chapter6 计算机在材料检测中应用.pptVIP

计算机在材料科学与工程中的应用 6.1 材料成分的检测 （一）分析电子显微方法 各种分析设备几乎都是在计算机采集和数据处理系统控制下工作，数据处理软件大致可分三类： （二）光谱仪方法 计算机应用软件在光谱仪方法中的功能 一、金相图像分析系统 1.合金相的定量测量 2.非金属夹杂物的定量测量 二、材料缺陷的计算机评定 （1）计算机材料缺陷评定系统硬件配置 （2）计算机材料缺陷评定系统软件构成 （三）材料显微组织的计算机仿真 （1）增强粒子的空间分布 （3）三维可视仿真结果 6.3 材料力学性能的检测 例：万能材料试验机的计算机辅助测试系统 （2）系统软件的组成 （3）主要实现功能 4.5 材料物理性能的测量 实 例 * * * */29 X.Z.Lin * 第6章 计算机在材料检测中的应用 本 章 要 点 6.1 材料成分的检测 6.2 材料组织结构的检测 6.3 材料力学性能的检测 6.4 材料物理性能的检测 材料的组成对材料的性能和应用有很大的影响，许多材料的合成和制备也正是通过改变材料的成分来改变材料的性能。如材料的表面处理就是使材料的表面成分与心部不同，以获得材料表面的特殊性能。因此，材料成分的检测对于材料研究有着特别重要的意义。 现今可利用各种大型分析设备如扫描探针显微镜（SPM)、扫描电镜（SEM）、 透射电镜（TEM)，X射线衍射仪、电子衍射仪、各种谱仪如红外光谱仪、拉曼光谱仪、原子吸收光谱仪、激光光谱仪等进行材料成分的检测。 分析电子显微方法是现代电子显微学领域中的重要组成都分，是从微观尺度认识和研究材料的非常重要的手段。 分析电子显微方法中要获得材料成分的信息的方法主要有： 电子能谱（EDS或EDX）（与SEM配套使用，元素分析） 电子探针X射线微区成分分析(EPM或EPMA) (微区成分分析) 俄歇电子能谱（AES）（表面成分分析、微区成分分析） X射线光电子能谱（XPS）（表面成分、化学态分析） 电子能量损失谱方法（EELS） 高角度散射暗场方法（STEM）（也称Z衬度方法） 场发射电子枪技术（使纳米尺度的成分分析成为可能，它能进行1nm以下区域的成分分析） （1）计算、模拟软件 输入被测材料的名称、实验条件和分析要求；系统按某个计算模型或公式输出计算结果、用于实验前的结果预测、与实验结果比较和 数据评价。（如：由Small World公司编制的Electron Flight Simulator软件，可依据蒙特卡罗法模拟求出入射到试样中的电子散射的轨迹，也可计算试样产生的特征X射线谱等。） （2）数据分析、图谱分析软件 对仪器测得的实验结果（图像或图谱的数据），按指定的公式、方法分析处理，得到进一步的更多信息（结果）。（如：Galan Inc.公司的EL/P（M）软件，可用于电子能量损失谱仪（EELS）的控制和谱仪数据的分析，给出微区成分分析的结果等。） （3）设备控制软件 控制各种分析设备装置分析过程的软件。选择输入分析要求、实验条件，分析设备装置按照这些选择进行分析过程。 大致可以分为三类（数据处理软件部分）： 光谱分析是依据样品物质的特征光谱，研究其化学成分和存在状态。在现代科学技术的发展中，光谱分析在材料成分分析和结构分析中起着重要作用。 微波辐射光谱 光学光谱 拉曼光谱（激光）（散射光谱） 吸收光谱 紫外光（20～400nm） 可见光（400～800nm） 近红外光 （800～900nm） 红外光谱（常用中红外：波数4000 ~400 cm-1 ） 原子吸收光谱法 顺磁共振光谱法 核磁共振光谱法 紫外可见分光光度法 发射光谱 原子发射光谱法 分子荧光光谱法 分子磷光分析法 化学发光分析法 X射线光谱 X射线波谱（光学方法展谱） X射线能谱（电子学方法展谱） （1）测量参数选择 不同样品作不同元素的检测时，许多测量控制参数都有所不同。仪器随机控制应用软件能选择不同的参数，为此建立测量控制参数文件，存储在磁盘中，供以后调用；并能显示、输入、修改、存储测量控制参数等。 （2）定标处理 测量前仪器都需经标准样品校准。标准样品中各种元素浓度与仪器相应通道的光谱线强度计数值一般以文件形式存储，应用软件在工作时调用此文件与实测时的光谱线比较．得出被测样品的含量值。 （3）常规测量过程控制 完成一般的常规测量过程，同时数据系统把测量数据依通道存入测量数据文件。 （4）分析测量结果 依测量数据文件和定标文件对被测样品作出分析，给出被测样品的成分分析结果，并显