第22卷第1期仪器仪表学报数字电路测试生成的可满足性方法研究.pdfVIP

第22卷第1期 仪 器 仪 表 学 报 数字电路测试生成的可满足性方法研究 曹成碧 陈光祸 (四川大学电气信息学院 成都 610065) (电子科技大学CAT室 成都 610054) 摘要 本文介绍了可满足性的测试向量生成 (SAT—ATPG)算法。通过控制输入跟踪算法 (CITA)嵌入 SATATPG中，减步 了CNF的构成时间和搜索空间，加速测试生成，减轻故障压缩工作量，又不损失最终测试集的精简 关麓词 控制输入跟踪算法 测试生成 数字电路 ResearchonTestingPatternGenerationforDigitalCircuitsusingSatisfiability Approach ZengChengbi ChenGuangju i(SichuanUniversity．Chengd# 610065China) 2(CATofUEST，Chengdu 610054China) Abstract Inthepaper，wedescribeaefficientalgorithm forATPG-- SAT—ATPG algorithm basedonSatisfiabi lity (SAT)．CITA (ControllingInputValuesTracingAlgorithm)proposedhasbeen incorporated intoSAT— ATPG．CPU timeofgenerating CNF andthetraversingspacearereduced．Thisalgorithm gaincompacttestset withlow price． ‘- Keywords Controllinginputvaluestracingalgorithm Testgeneration Digitalcircuits 集的精简 1 引 言 2 基本定义 由于测试在集成电路的设计与生产中占有不可缺 少的重要地位，随着集成电路的迅速发展，人们不断地 首先介绍电路和故障诊断的表示．组合逻辑 电路 对测试生成算法(ATPG)进行研究，近几十年研究了 表示为有向无环图C=(V ，E)。V 即电路节点为源 许多的ATPG算法 ]，大部分对基准电路都很有效， 输入或门电路输 出．边集E v ×V 指门输入输出 能达到很高的故障覆盖率。这些算法依赖启发式技术 连接。假定门为有界扇入，则 EcI—o(INI)。V 中的 并且得到大量的研究。相反，利用较步启发式信息的 每一电路节点x定义如下： ATPG算法 研究非常少，这种算法对有许多难测故 ·o(x)表示x的扇出节点； 障和缺乏启发式信息的电路的测试生成很重要；而 ·O。(x)表示x的传递扇出节点f 此算法不需要预处理所有的故障。本文描述了基于可 ·I(x)表示x的扇入节点； 满足性SAT(Satisfiability)的ATPG算法，然而，此算 法的大部分CPU时间是生成CNF式}算法 中为每个 ·I(x)表示x的传递扇入节点； 故障生成全部的测试向量，通过压缩 可精简测试集。 ·K。(x)表示直接影响x扇出的锥体，定义为： 但是故障压缩耗时太多，本文提出控制输入跟踪算法 K。(x)一{yIY∈O。(x)VyEI(w)AwEO (x)J (1) 嵌入测试生成的满足性算法中，极大压缩了故障，减少