光伏测试解决方案0902.pdfVIP

测试目的 解决方案 产品说明 薄膜测试： 德国SENTECH椭偏仪： 太阳能电池是将光能转换为电能，所以要尽可能 1)单波长激光椭偏仪可测量硅片表面介质膜的厚度、折射率 设计合理的表面结构将光尽可能的陷在电池内而 等光学参数。 不是反射出去，而硅本身又是一种亮灰色的材 2)光谱椭偏仪用于单层、多层膜及薄膜电池研发,可实现宽 料，反光率高于30% 。为提高太阳能电池的转换 光谱范围，变角度测量。 效率，在表面制作减反膜（AR coating ）以提高 3)光谱反射式膜厚仪可测量制绒前后反射率的变化，以及薄 电池对光的吸收。因此制备合适厚度和折射率的 膜电池多层膜的测量，测量结果还包括膜厚及折射率。 减反膜可以提高吸收效率。 4)Sentech还生产全球光谱范围最宽的从深紫外到近红外光 谱型椭偏仪； 非晶多晶及薄膜电池结构分析 美国PI及THERMOFISHER的拉曼光谱仪： 可以在非晶／微晶硅薄膜的质量，CIGS薄膜中Ga MonoVista CRS