《辐射度、光度与色度及其测量》_第九章.pdfVIP

第9 章 辐射度量的测量 182 9.1 光谱辐射度量的测量 182 9.1.1 分光装置 182 9.1.2 光谱辐射度量的测量 184 9.2 总辐射度量的测量 187 9.2.1 用已知光谱辐射特性的光源进行测量 188 9.2.2 用已知光谱响应度的探测器进行测量 189 9.3 辐射温度的测量 189 9.3.1 亮温的测量 190 9.3.2 色温的测量 190 9.3.3 辐射温度的测量 193 第9 章 辐射度量的测量 与光度量的测量相似，辐射度量的测量也可用经过标准光源或者具有已知响应度的探测器进行。一 种广为使用的测量方法是把光谱辐射度量的测量过程分成两步，先测出待测光源的相对光谱能量分布， 然后采用下述方法之一确定其绝对量，即光谱辐射度量。 ① 单波长测量法 只精确测量一个波长λ 的光谱辐射度量，则其它波长的辐射度量随之确定( 图9-1) 。测量波长λ 的辐 0 0 射度量起到了确定相对光谱能量分布比例尺的作用。一旦确定了比例尺，其它波长的辐射度自然得到。 由于λ 处窄谱段的辐射度量测 0 量至关重要，所以需要精心考虑 测量方法和估算测量误差的前 提下进行反复的测量。 有时也在几个波长处精确 测辐射度量，其目的增加测量的 准确性。 图9-1 辐射度量的测量 ② 总辐射度量测量法 测得图 9-1 中的总辐射度量，也就确定了相对光谱曲线和横坐标轴所包容的面积所代表的辐射度 量。由于横坐标的波长值是已确定的，则辐射度量的比例尺也随之确定。 总辐射度量测量法有许多优点。因为总辐射量在探测器上产生的信号比光谱量产生的信号大得多， 故可获得足够大的信噪比。 本章阐述辐射度量的测量、辐射温度的测量。 9.1 光谱辐射度量的测量 9.1.1 分光装置 常用作分光的装置有单色仪、滤光片等。单色仪具有高的光谱分辨率，能十分方便地连续改变输出光 的波长，所以在测量光谱能量分布变化较大、光源光谱分布有明显的吸收带或者发射谱线时，常用它作为 分光装置。 待测光有多种照亮单色仪入射狭缝的方式，图 9-2 给出了四种照射方式。对于尺寸较大的面光源, 可 不用光学元件而直接照亮单色仪的入射狭缝(9-2(a)), 待测光源离狭缝越远, 要求的最小光源面积就越大, 进 入单色仪的杂散光较少。由于入射狭缝是限制光束的光阑, 故系统有渐晕, 即光源表面上不同点投射到物镜 的光束立体角不同, 且它们通过系统不同部位, 虽然缝的照明是均匀的, 但光源表面外侧进入单色仪的辐射 通量小于中央部位。图 9-2(b)可克服上述缺点, 在入射狭缝处加一场镜, 使入射狭缝的辐照度均匀, 系统无 渐晕，进入测量系统的杂散光也减少。 图9-2(c)光源通过一聚光镜成像在单色仪的入射狭缝上，聚光镜增加了被测光源光能的利用率。这种照 182 射方式的缺点是当光源辐亮度不均匀时，入射狭缝(因而出射狭缝)处的辐亮度也不均匀，且进入单色仪的杂 散光也会对测量有影响。图 9-2(d)在入射狭 缝处加了场镜，可减少杂散光，使光源不同 部位进入单色仪的光束立体角一致。 在光谱辐射度量测量中，由于光学系统 的像差、缝的弯曲，不同光源部位经过单色 仪不同部位的透射特性不同，光源、探测器 到入射、出射狭缝的距离难以精确测定等， 因此，单色仪的光谱透射比难以精确确定， 影响单色仪用于光谱辐射度量的测量。 取某一波长λ作为参考，对于波长λ的光 图9-2 几种照射单色仪入射缝的方式 r 源照射单色仪入射狭缝时，位于出射狭缝处的探测器的输出信号V(λ) 由(6-12)式可写出 dλ V(λ) kL(λτ) (λ) r(λ)Rm