3023材料分析技术.docVIP

2013年研究生入学考试大纲 1.1 X射线的本质和X射线谱 1.2 X射线与物质的相互作用 2 X射线衍射原理 2.1 倒易点阵 2.2 X射线衍射方向 2.3 X射线衍射强度 3 多晶体X射线衍射分析方法 3.1 粉末照相法 3.3 X射线衍射仪 4 X射线衍射分析方法的应用 4.1 点阵常数的精确测定 4.2 物相的定性分析和定量分析 4.3 宏观应力的测定 5 电子光学基础 5.1 电子波与电磁透镜 5.2 电磁透镜的像差与分辨本领 5.3 电磁透镜的景深和焦长 6 透射电子显微镜 6.1 透射电子显微镜结构 6.2 透射电镜样品制备 6.3 电子衍射 6.4 电子显微图像 6.5 透射电镜在材料分析中的应用 7 扫描电子显微镜 7.1 电子束与固体样品的相互作用 7.2 扫描电镜的构造和工作原理 7.3 扫描电镜的主要性能 7.4 表面形貌衬度原理及其应用 7.5 原子衬度原理及其应用 8 电子探针显微分析 8.1 电子探针仪的结构与工作原理 8.2 波长分散谱议 8.3 能量分散谱议 8.4 电子探针仪的分析方法及应用 9 表面分析技术 9.1 离子探针 9.3 俄歇电子能谱仪180分钟，满分：100分 2 题型结构 1） 基本概念题（约20分） 2） 基本简答题（约40分