ZnO纳米带的电子显微学研究.pdfVIP

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  • 2017-10-10 发布于安徽
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电子显微学报J.ChinEleetrMicrosc.Soe 370 23(4):370—3702004年 ZnO纳米带的电子显微学研究 李英,马秀良 (中国科学院金属研究所沈阳材料科学国家(联合)实验室,辽宁沈阳110016) 自从1991年lijima发现纳米炭管“’以来,一系如图1a所示,反应产物有大量纳米条带和纳米 列的一维纳米材料(包括纳米线、纳米带、纳米棒等) 棒,宽度范围在50~500nto左右,长度则在几微米到 被相继用不同的方法制备出来。由于它们独特的结 几十微米范围内。图1b为对一根ZnO纳米带进行 构特性和因此而具有的不同于传统二维、三维材料 观察所得的TEM形貌像,图1c为与图1b所对应的 的新颖物理性质,这些一维纳米材料有着很大的基 选区电子衍射和高分辨照片。大量的纳米带沿着 础研究价值和潜在的应用价值,从而受到人们的广 [1120]方向生长,这与以前的报道不同”’“。此外, 泛关注和研究。宽的和直的带隙半导体(如ZnO、我们也观察到沿[O001]方向

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