GB/T 15246-2002硫化物矿物的电子探针定量分析方法.pdf

ICS 37.020 N 33 中 华 人 民 共 和 国 国 家 标 准 GB/T15246-2002 代替 GB/T15246-1994 硫化物矿物的电子探针定量分析方法 Quantitativeanalysisofsulfidemineralsbyelectronprobemicroanalysis 2002一11一11发布 2003一06一01实施 中 华 人 民 共 和 匡 国家 质 量 监 督 检 验 检 疫 总 辰 GB/T15246-2002 月U 胃 本标准代替GB/T15246-19940 本标准是对GB/T15246-1994的修订。本次修订增加与调整了部分技术内容。 本标准由全国微束分析标准化技术委员会提出。 本标准由全国微束分析标准化技术委员会归口。 本标准起草单位:中国地质科学院成都矿产综合利用研究所。 本标准主要起草人:毛水和。 本标准于 1994年 10月首次发布。 GB/T15246-2002 硫化物矿物的电子探针定量分析方法 范 围 本标准规定了用电子探针进行硫化物矿物定量分析的标准方法。 本标准适用于在电子束轰击下稳定的硫化物以及砷化物、锑化物、镑化物、蹄化物、硒化物的电子探 针定量分析。 本标准适用于以X射线波长分光谱仪进行的定量分析;其主要内容和基本原则也适用于以X射线 能谱仪进行的定量分析。 2 规范性引用文件 下列文件中的条款通过本标准的引用而成为本标准的条款。凡是注日期的引用文件，其随后所有 的修改单(不包括勘误的内容)或修订版均不适用于本标准，然而，鼓励根据本标准达成协议的各方研究 是否可使用这些文件的最新版本。凡是不注日期的引用文件，其最新版本适用干本标准。 GB/T15074 电子探针定量分析方法通则 术语 和定义 3.1 硫化物矿 物 sulfideminerals 由硫构成阴离子团的金属矿物。 3.2 光片 polishedsection 将岩石或矿石样品切割成一定大小，并将待观测面磨平、抛光的试样。 3.3 光薄片 polishedthinsection 将岩石或矿石样品切割成一定大小，减薄至能透过光线，并双面磨平、抛光的试样。 3.4 砂光片 sladegrains 将颗粒样品镶嵌在导电或非导电的镶嵌物中或制在玻璃薄片上并进行磨平抛光的试样 3.5 谱线重盛 spectrumoverlap 样品中不同元素的某些特征X射线之间所存在的一定程度的谱峰重叠的现象。 3.6 重盛因子 overlapfactor 为了校正因试样中某些元素之间存在谱线重叠而造成被分析元素真实含量改变而建立起来的试验 数值(因子)。 4 仪器设备 电子探针仪 ; GB/T 15246-2002 — 样 品抛 光装置 ; 真空镀膜机 ; 光学 显微镜。 5 试样 制备 5.1 对于电子探针定量分析用的试样，总的要求是表面平滑光洁，擦痕少，无污染物，容易找到分析测 试的目标部位。岩矿鉴定人员用的光片、光薄片和砂光片样品以及金相工作者用的其表面光洁的样品， 通常可直接用作电子探针分析试样。 5.2 不同性状的样品，采用不同的制样方法。对于块状样品，可根据仪器配备的样品座大小，制成一定 尺寸的光片或光薄片;对于小颗粒样品，宜用环氧树脂镶嵌固结磨制成砂光片。 5.3 对于不导电或导电不良的样品，必须进行真空镀膜(通常镀碳膜)。硫化物本身绝大多数是导电 的，但有时硫化物矿物往往以微细颗粒的形式穿插分布在不导电的脉石矿物中，这种样品也必须进行真 空镀